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上海宝试检测设备有限公司
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一、可程式冷热冲击试验箱温度值：1
一、可程式冷热冲击试验箱温度值：
1.温度范围
高温区温度范围：RT～170℃
低温区温度范围：RT～ -70
测试区温度范围：-55～ 150℃
2.温度冲击范围
高温 : 50℃～ 150℃
低温: -10℃ ～ -55℃
3.控制精度
解析精度: 0.1℃
温度波动度: ±1℃
分布均匀度: ≤2.5℃
温度偏差：±1℃
二、可程式冷热冲击试验箱结构特征：
1.设备布局
设备设计为整体式结构，正前方为工作室，制冷机组安装在设备后侧空间内，电器控制箱及吊篮升降控制装置安装在设备右侧位置。设备底部安装移动脚轮及定位脚杯可方便设备移动及定位，高温室与低温室上下结构，可快速移动吊篮实现温度快速交变，同时占地面积较小节约使用场地
2.箱体外壳
采用1.2mm厚冷轧钢板经过高精度数控设备切割加工后弯折成型，接缝处采用氩弧焊接打磨抛光处理后高温喷粉烤漆处理表面，**防止生锈。
外观烤漆颜色：箱体深灰色，箱门天蓝色
3.保温材料
采用耐高温玻璃纤维棉+聚氨酯硬质发泡胶制作而成混合保温层，保温效果明显
4.箱体内胆
采用1.2mm厚SUS304#不锈钢经过高精度数控设备切割加工后弯折成型，接缝处采用氩弧焊接打磨抛光处理，精美大方
三、电气控制系统。
1.控制器
中国台湾威纶，控制温度
2.画面显示功能
3.采用人机交互方式,采用触摸式输入、控制
4.温度设定(SV)实际(PV)值直接显示
5.可显示执行程序号码,段次,剩余时间及循环次数, 运转时间显示
6.执行程序动作状态显示
7. 语言转换可以切换繁中/英文
8. 7.5寸液晶彩色显示屏
四、设备执行标准以及满足试验方法
1. GJB150.5A-2009温度冲击试验
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法温度变化试验导则
4. GJB360B-2009温度冲击试验
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
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