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瑞轩电子科技(上海)有限公司
M系列老化测试箱
M系列老化测试箱介绍:
M系列老化测试箱技术参数:
Binder M系列加热测试箱型号 | 外部尺寸(L*H*W)mm | 内部尺寸(L*H*W)mm | 温度范围 | 内部容积L | 温度波动范围 |
M 53加热测试箱 | 634*779*575 | 400*400*330 | 环境温度以上5℃到300℃ | 53 | ≤±0.1℃ |
M 115加热测试箱 | 834*863*645 | 600*480*400 | 环境温度以上5℃到300℃ | 115 | ≤±0.1℃ |
M 240加热测试箱 | 1034*984*745 | 800*600*500 | 环境温度以上5℃到300℃ | 240 | ≤±0.1℃ |
M 400加热测试箱 | 1234*1184*765 | 100*800*500 | 环境温度以上5℃到300℃ | 400 | ≤±0.1℃ |
M 720加热测试箱 | 1234*1692*865 | 100*1200*600 | 环境温度以上5℃到300℃ | 720 | ≤±0.1℃ |
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