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TouchProbe扫描探针配备在Vicivision测量系统的光源顶部,结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统，使转动部件实现了完整的测量控制
Touch Probe 扫描探针配备在Vicivision测量系统的光源顶部, 结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统，使转动部件实现了完整的测量控制。可测量轴向和总轴向跳动长度、平面度、垂直性、键槽宽度、键槽深度、键槽长度。
圆柱形零件光学测量机
的性能
光学和触觉功能的结合，使转动部件实现了完整的测量控制。
*个测量系统，多种选择。
*个全新的轴测量功能，结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统。
触摸式探头
Vicivision测量系统现在配备了*个Renishaw扫描探针，安装在光源顶部。探针可以互换，覆盖整个长度区域。
光学与触觉结合
当光学测量系统快速提供静态、几何和螺纹测量、形状和螺母测量时，触摸系统检测不可光学测量的特征。
光学和触摸组合可测量：
轴向和总轴向跳动长度
平面度
垂直性
键槽宽度
键槽深度
键槽长度
技术参数:
精度 | 重复性 | |
长度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳动值 | 1.2 μm | 0.3 μm |
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