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北京智德创新仪器设备有限公司
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硅橡胶材料介质损耗测试仪试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。
2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。
3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。
硅橡胶材料介质损耗测试仪—硅橡胶绝缘材料介损测试
测试方法
根据 GB/T1409-2006《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法》可知对于介质损耗 1%的精确度来说，试样的厚度至少1.5mm，直径为 100mm 或更大些，因而试验材料选择厚度 2mm、底面直径 100mm的圆形清洁硅橡胶材料试片。采用符合不均匀电场的板-板电极系统测试平台进行工频 50Hz 的介质损耗试验，高、低压电极都为铜质圆板，高、低压电极直径均为 40mm，通过电极系统支座四个角落的螺栓可将电极之间的试品夹紧，对应的介损测试平台如图 3-5 所示。
为保证材料接触的良好性，可在绝缘材料与电极之间垫上与电极面积相同的铝箔纸，满足良好的导电性。试验之前预先用无水乙醇对所有的硅橡胶试样进行清洁处理，待试样表面的无水乙醇挥发干之后，在常温 20℃的环境中对三种试样进行测量，每种试样的数量为 5 片。调节介质损耗测量仪施加的工频电压为3kV，按住操作面板上的启动按钮开始加压，待数据稳定 30s 之后，读取介质损耗正切值 tanδ，试验电压、频率可立刻读取，干扰严重时不必读取 tanδ的最后一位(十万分之一位)，得到每种试样在常温 20℃的介质损耗均值。
保持绝缘材料的固定，将整个测试平台放入试验箱中，调节低温柜的温度，待温度稳定后测量绝缘材料在低温下的介质损耗，温度变化从 0℃开始依次降低10℃，直至-60℃，测量各个温度点的不同 Al(OH)3 含量试样的介质损耗平均值，记录数据并绘制固体绝缘材料试品的介质损耗平均值与温度之间的关系曲线。
硅橡胶材料介质损耗测试仪符合标准：
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法；
参数：
1、测量范围及误差
本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。
在Cn=100 pF、R4=3183.2（Ω）时：
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 40pF—20000pF | ±0.5% Cx±2pF |
介损损耗tgδ | 0-1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
在Cn=100 pF、R4=318.3（Ω）时：
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 4pF—2000pF | ±0.5% Cx±3pF |
介损损耗tgδ | 0-0.1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
2.相对湿度/温度：30～85%；0～40℃
3.工作电压：220V10%，50HZ
4.测温范围：0～199.9℃，误差1+0.1℃
5.控温范围：室温～199.9℃，稳定度（1+0.1）℃
6.由室温加热至控温值：不大于45min
7.加热功率:< 1000W（包括内、外加热器）
8.两极空间距离：2mm
9.空杯电容量：60±2pF
10.最大测量电压：工频2000V
11.空杯tgδ：≤5×10-5
12.液体容量：约40mm3
13.电极材料：不锈钢
14.重量：约10kg
15.型号：ZJD-87智德创新仪器）
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