| 测量残余奥氏体的含量，对于热处理的控制是非常重要的，X射线衍射法（XRD）是可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法，残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。 残余奥氏体 钢的硬化过程是首先加热到奥氏体相，然后淬火到室温转变为硬质的马氏体相。奥氏体在高温钢中呈现面心立方结构（FCC），冷却时，钢体大部分转化为体心立方结构（BCC）的铁素体，或者转变为体心正方结构（BCT）的马氏体。根据冷却钢的速率，会有一部分钢仍为奥氏体（通常为0-40%），因此称为残余奥氏体。 奥氏体的结构比铁素体还有马氏体的结构都要大，如果在转变过程中有残余奥氏体存在，随着时间的延长，产品中的残余奥氏体会转变为其他相体，这些变化会导致产品的形状发生改变。此外，其他的物理性能，如硬度和强度，都会随着不同相体的转变而发生变化，这些变化最终会影响到产品的使用寿命。 X射线衍射法来测量残余奥氏体的百分比含量 X射线衍射法可以准确测定钢热处理后残余奥氏体的含量，能够为钢铁热处理过程控制提供可靠保证，提高产品质量。 X射线衍射法是目前为止测量钢体中残余奥氏体含量最准确的方法。根据ASTM E975-03的X射线测量钢中残余奥氏体近晶体随机取向的标准方法，ARE X这款仪器能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量。 由于奥氏体相结构与其他相的结构不同，在不同的测试点，奥氏体会产生于铁素体和马氏体不同的衍射峰值。钢中相的总数和与其衍射峰值的强度成正比。简单来说，残余奥氏体总的含量与奥氏体峰值的强度和其他相峰值强度比有关。我们利用X射线衍射仪采集四个衍射峰值来确定残余奥氏体的浓度，两个分别是铁素体和马氏体，两个是奥氏体。通过四个峰值强度的对比可以获得样品中残余奥氏体的百分比含量。 ARE X衍射仪可以测量奥氏体（220）（311）、铁素体（200）（211）的衍射峰值强度，并分别提供四个奥氏体/铁素体的峰值强度比。通过多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向的带来的影响，同时对检测到的碳化物干扰加以计算。 样品制备 标准的金相湿研磨和抛光方法，表面抛光： 由碳化硅或氧化铝砂纸 600 到 80 目； 表面研磨： 6 到 0.2 μ m 的金刚石或氧化铝瓷。 ARE X衍射仪技术参数 | X射线发生器 | 输出功率 | 3KW | | 输出稳定性 | <0.01% (电源供给10%的波动） | | 输出电压 | 60KV | | 输出电流 | 60mA | | 电压步宽 | 0.1KV | | 电流步宽 | 0.1mA | | 波动 | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | | 预热与电路 | 自动预热和斜坡控制电路 | | 输入电压 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 单相 | | X射线光管 | 光管类型 | 玻璃（可选陶瓷），Mo靶材，细焦斑（可根据要求选其他型号） | | 焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可选0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | | 准直 | 单毛细管准直器:直径1 - 2毫米 | | 输出电压 | 3KV | | 测角仪 | 配置 | 垂直测角仪 | | 扫描角范围 | 27° < 2θ< 40° | | 角准确度 | ± 0.001° | | 样品台 | 尺寸 | 110 mm x 150 mm | | 探测器 | 类型 | 高分辨率，带直接耦合（微米）光纤输入的X射线数码摄像仪和带制冷CCD | | 机体 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm | | X射线泄露量 | < 1 mSv/年 （按照国际准则充分安全屏蔽） | | 处理单元 | 计算机类型 | 个人计算机 | | 控制对象 | X射线发生器、探测器和数据库 | | 基本数据处理 | 建立校准曲线，残余奥氏体计算 | 仪器特性 符合国际标准：ASTM E975-03 使用精密的自动反馈控制电路获得的X射线发生器稳定性。 自动调整高电压与电流输出脉动值。 大功率、优质的玻璃（陶瓷）X 射线管，电压可至60KV。 高聚焦单毛细管准直器。 2θ角度范围：27 to 40°。 样品台尺寸：110 mm x 150 mm。 高分辨率CCD探测器。 采集时间：小于5分钟。 双安全防辐射电路模块。 自带校准。 | 
