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MC-2000C涂层测厚仪

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产品型号MC-2000C

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更新时间：2023-06-13 12:18:09浏览次数：210次

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产品简介

MC-2000C涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～5000um，是的结晶,MC-2000C涂层测厚仪它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的*水平。

详细介绍

MC-2000C涂层测厚仪

MC-2000C涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～5000um，是的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，MC-2000C涂层测厚仪其性能达到当代国际同类仪器的*水平。
本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。MC-2000C涂层测厚仪广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

工作原理：

MC-2000C型涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以**地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。

二、产品性能

1、测量范围：　　0～5000um

2、测量误差：　　<3%±1um

3、*小示值：　　1um

4、显示方式： 4位液晶数字显示

5、主要功能：

(1).测量：　单探头全量程测厚

(2).存储、删除：可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。

(3).读：　读出已存入的测量数据

(4).统计：设有三个统计量，平均值*大值*小值

(5).校准：可进行系统校准