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适用于PCB电镀层厚度分析的X射线镀层测厚仪

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参考价: ￥ 256789

订货量: ≥1 台

具体成交价以合同协议为准

产品型号iEDX-150WT

品牌

厂商性质其他

所在地广州市

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更新时间：2024-08-19 12:35:04浏览次数：172次

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X射线镀层测厚仪

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广州鸿熙电子科技有限公司

经营模式：其他

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产品简介

适用于PCB电镀层厚度分析的X射线镀层测厚仪iEDX-150WT一款适用于PCB电镀、金属镀层厚度分析领域的X射线镀层测厚仪。采用非真空样品腔；专业用于PCB镀层厚度分析；可同时增加镀层中的合金成分分析及RoHS功能。iEDX-150WT韩国品牌ISP公司研制，质量精良，精度高，稳定性好，无易损易耗件，操作简单便捷，易学易懂。

详细介绍

一、产品概述

产品类型：能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称：适用于PCB电镀层厚度分析的X射线镀层测厚仪

型号：iEDX-150WT

生产商：韩国ISP公司

亚太地区战略合作伙伴：广州鸿熙电子科技有限公司

产品图片：

镀层厚度测试仪 iEDX-150WT

适用于PCB电镀层厚度分析的X射线镀层测厚仪

工作条件
●工作温度：15-30℃	●电源：AC: 110/220VAC 50-60Hz
●相对湿度：<70%，无结露	●功率：150W + 550W

二、产品优势及特征

（一）产品优势

1. 镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性高（见以下产品特征详述）。

2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达110*110*5mm。（固定台可选）

3. 激光定位和自动多点测量功能。

可检测固体、粉末状态材料。
运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。
可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。
操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。
可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
软件*升级。
无损检测，一次性购买标样可永JIU使用。
使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务。
可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。
可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。
适用于PCB电镀层厚度分析的X射线镀层测厚仪。

（二）产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。

Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析。

可以增加RoHS检测功能。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

当化金厚度在2u〞-5u〞时，测量时间为40S

准确度规格 ±5%

精确度规格 <5%（COV变动率）

当化金厚度 >5u〞时，测量时间为40S

准确度规格 ±5%

精确度规格 <5%（COV变动率）

当化银厚度在5u〞-15u〞时，测量时间为40S

准确度规格 ±8%

精确度规格 <7%（COV变动率）

测化锡时，测量时间为40S

准确度规格 ±8%

精确度规格 <6% （COV变动率）

准确度公式：准确度百分比=（测试10次的平均值-真值）/真值**

精确度COV公式：（S/10次平均值）**

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
完整的统计函数均值、标准差、低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

三、产品配置及技术指标说明

u 测量原理：能量色散X射线分析	u 样品类型：固体/粉末
u X射线光管：50KV，1mA	u过滤器：5过滤器自动转换
u检测系统：SDD探测器(可选Si-Pin)	u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
u检测元素范围：Al (13) ~ U(92)	u准直器孔径：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)
u应用程序语言：韩／英／中	u分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光
u仪器尺寸：840613385mm	u样品移动距离：1101105 mm（自动台）