当前位置：北京精科智创科技发展有限公司>>材料电学高温测试设备>>高温电阻率测试系统>>HTIM-300型高低温材料电阻

HTIM-300型高低温材料电阻

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号

品牌

厂商性质其他

所在地北京市

在线询价收藏产品查看联系电话

联系方式：谢伟华查看联系方式

更新时间：2024-05-31 09:46:51浏览次数：92次

联系我时，请告知来自智慧城市网

产品分类 品牌分类

  材料电学高温测试设备

高温半导体材料电阻率测试仪

热释电系数测试系统

高温压电d33测量仪

金属高温电阻测量系统

高温高压电容测试系统

变温光谱测试系统

材料双波段发射率测量系统

高温四探针综合测试系统

高温超导材料测试系统

高温气敏元件测量系统

热敏元件材料参数测量分析系统

低温介电测试系统

高温绝缘材料电阻率测试仪

高温压电阻抗分析测试系统

高温熔融玻璃电导率测试装置

热激励去极化电流测量

高温绝缘电阻测试仪

高温电阻率测试系统

导电材料高温电阻率测试仪

高温介电测量系统

全部产品列表

暂无信息

北京精科智创科技发展有限公司

经营模式：其他

商铺产品：248条

所在地区：

联系人：谢伟华

询价 给他留言

产品简介

详细介绍

HTIM-300型高低温材料电阻率测试仪

HTIM-300型高低温材料电阻率测试仪

高低温测试平台

6517B高阻测试仪

2450低阻表

HTIM-3高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsAl、GaAsP，固溶体半导体，如Ge-Si、GaAs-GaP等的块体材料的电阻率测量等材料的电阻率测量。

主要应用领域：

半导体材料电阻测试

复合绝缘材料

陶瓷材料

云母

玻璃材料

导电功能薄膜材料

绝缘超材料

硅橡胶材料

PCB材料
一、主要技术参数：
温度范围：-160℃-600℃
升温斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控温精度：±0.5℃
电阻测量范围：0.1mΩ~1MΩ
电阻率测量范围：100nΩ..cm~100KΩ .cm
测量环境：惰性气氛、还原气氛、真空气氛
测量方法：四线电阻法
测试通道：单通道
样品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
电极材料：紫铜镀金
绝缘材料：99氧化铝陶瓷
数据存储格式：TXT文本格式
数据传输：USB
符合标准：ASTM
供电：220V±10%，50Hz
工作温度：5℃ 至 + 40 ℃；
存储温度：–40 ℃ 至 +65 ℃
工作湿度：+40 ℃ 时，相对湿度高达 95%（无冷凝）
设备尺寸：400x450x580mm
重量：38kg