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BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统关键词：薄膜热电，赛贝克系数，Seebeck，四线法为解决日益紧迫的能源危机，太阳能、风能、核能等多种新能源不断被开发利用
| BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统 BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统 关键词：薄膜热电，赛贝克系数，Seebeck，四线法
为解决日益紧迫的能源危机，太阳能、风能、核能等多种新能源不断被开发利用。新能源的使 用需要优质的节能材料。 利用热电材料制成的制冷和发电系统，具有体积小、重量轻、无任何机械噪音、不造成任何环 境污染等众多优点。因此对热电材料的研究非常重要。为了进一步提高热电材料的转化效率（热电 优值），对其研究从块体慢慢转移到薄膜材料。 技术原理 动态法：测量 Seebeck 系数 在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差，通过记录样品两端温差和热电势的变化， 然后将温差和热电势拟合成一条直线，直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。 采用四线法测量电阻率。 硬件特点 专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。 采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。 采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠。 薄膜热电参数测试系统 技术原理 动态法：测量 Seebeck 系数 在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差，通过记录样品两端温差和热电势的变化， 然后将温差和热电势拟合成一条直线，直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。 采用四线法测量电阻率。 硬件特点 专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。 采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。 采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠。 1. 实现功能：在室温温场下可同步测量Seebeck系数和电阻率； 2. 电势测量：采集系统采用商业高分辨数字万用表； 3. 温差测量：温差精度控制：+/-0.1K，控温速率：0.02–50K/min；温差控制：0-80K ； 4. Seebeck系数和电阻测量方法：Seebeck系数-静态直流法, 多温差法，电阻率-四端法； 5. Seebeck系数测量范围和分辨率：1μV/K-25V/K；测量分辨率：10nV/K； 6. 电阻率测量范围和分辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；测量分辨率：10nOhmm； 7. 测量精度：Seebeck 系数 : +/- 7%，电阻率 : +/- 10%； 8. 样品尺寸：直径或正方形 6-12mm，长度6-22mm，正反面电极均可； 9. 探头测试间距：6, 8 mm，任选一种； 10. 外接电源：单相220V ，50Hz； 11. 软件：图形化界面， windows 菜单，数据采集；加热恒温降温温度程序化设计；易于操作的菜单设计，测量结果可以txt，EXC |
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