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北京上光仪器有限公司
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粗糙度轮廓仪为测量粗糙度、轮廓一体的高精度精密仪器；该仪器采用技术，优化的结构和简易的操作设计，使得该高效率设备得到更易的使用，是上海光学仪器一厂积累数十年的表面计量学经验，结合未来焦点技术生…
粗糙度轮廓仪 SRA-2
■产品特点
（1）粗糙度测量
*可对平面、斜面、圆柱面、内孔表面、圆弧面、球面等进行高精度的粗糙度分析
*适用多种粗糙度标准（GB/T3505-2000，GB/T6062-2001,GB/T10610-1998等）
*配备X-Y 360°旋转工作台，显著提高可操作性。
*自动校正功能。
*宽范围、高分辨率的检测器和一个直接驱动元件，提供了在同类产品中更优越的高精度测量。
*配备易于操作的控制箱，可进行开始/停止测量、返回等操作。驱动部的上/下位置和X轴的移动等微调操作。
*仪器带有电脑及专用测量软件，操作更加直观方便，精度高，稳定性高，并方便报告打印输出和数据保存。
（2）轮廓测量
*对距离、角度、半径、周期等尺寸公差进行测量，对三坐标、画像仪、投影仪等测不到的孔洞及微小尺寸进行测量。
* 可记录图形。
*测量速度快。减少被测物滞留时间及人员时间的占用。
*人为误差减少，任何人都可以测量。
*可以连接到电脑，通过软件进行测量与分析
■仪器参数：
一、粗糙度测量
X 轴 (驱动部)
1.测量范围: 100mm
2.分辨率: 0.5μm
3.长度基准: 高精度位移传感器
4.驱动速度: 0 – 10mm/s
5.测量速度: 0.5 - 2mm/s
Z 轴 (立柱)
1.类型: 电动操作
2.垂直移动: 350mm
检测器
1.范围／分辨率: 1000μm / 0.01μm
2.测针针尖: 2um
3.示值误差: ±5%-—±7%
4.测量重复性: ± 3% -—-±5%
5.类型: 差动电感式
6.驱动装置的控制:手动或 PC 操作
评价参数
1.Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,
Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm, HSC, mr, dc, plateau ratio,
mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la, lq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1, A2
取样长度
1.0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
数据补偿功能
倾斜补偿，R 平面(曲面) 补偿，椭圆补偿，抛物线补偿，
双曲线补偿，二次曲线自动补偿，多项式补偿，多项
式自动补偿
二、轮廓测量
1.测量范围:≤100mm
2.分辨率: 0.1μm
3.测量速度: 0.2, 0.5、1mm/s
4.测量方向: 向后
5.指示精度: ±(3.5+2L/100)μm
* L = 测量长度 (mm)
6.测针上／下运作: 弧形运动
7.测针方向: 向下
8.测力: 10 - 30mN
9.测针针尖半径: 25μm, 硬质合金针尖
本文: /bmjc/cclky/6402.html
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