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HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪

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产品型号XGT-1000WR

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更新时间：2022-09-24 13:40:04浏览次数：255次

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产品简介

HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪X射线导向管聚焦技术保证了较高的检测精度；厚度自动修正；CL元素自动修正：同轴CCD技术；X射线零外溢；随机携带12块标准样；新增金属镀层测厚功能。

详细介绍

产品介绍

HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪

HORIBA XGT-1000WR主要技术指标：

1、分析元素：Si～UCd/Pb高精度型；Na～U选择：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型

2、检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm高150 mm

4、X射线照射径：φ1.2 mm可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换

5、检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

6、设备重量：约 265 kg不含桌子、计算机

7、外形尺寸：分析部分：610W×750D×500Hmm

8、信号处理部：220W×500D×480Hmm

9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量，确保了微区测量、快速测量、高精度测量。

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