工作噪声：A 声级≤ 75dB(A)
(大门前1m 离地面高度1.2m 处，自由空间中测量)
2、温度指标：
高温箱⑴预热上限温度：+200℃
⑵升温时间：常温→+200℃ ≤ 45min（储能时间）
注：升温时间为高温箱单独运转时的性能
低温箱⑴ 预冷下限温度：-70℃
⑵ 降温时间: 常温→-70℃≤ 60min（储能时间）
注：降温时间为低温箱单独运转时的性能
冲击温度⑴ 高温冲击温度范围：+60℃～+150℃
⑵ 低温冲击温度范围：-55℃～-10℃
温度波动度:≤ ±0.5℃
温度均匀度:≤ ±2.0℃
冲击试验条件高温冲击：+60℃～+150℃ 高温暴露时间15min 以上
低温冲击：-55℃～-10℃ 低温暴露时间15min 以上
温度偏差±2.0℃（≤ +150℃时）±3.0℃（＞+150℃时）
温度分辨率0.01℃
冲击试验方式：气动垂直吊篮式
除霜设置：手动或者自动除霜
除霜周期标准：除霜周期为20 个循环除霜一次(可选配20-200 个循环除霜一次；
200-500 个循环除霜一次；500-1000 个循环除霜一次)，外加低温干燥处理器
冲击恢复时间：≤ 3min 以内完成
标准负载能力：300W 发热量5kg 铝片
3、试样限制和测试方法：
本试验设备禁止
易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验及储存
腐蚀性物质试样的试验及储存
生物试样的试验或储存
强电磁发射源试样的试验及储存
放射性物质试样的试验及储存
剧毒物质试样的试验及储存
试验或储存过程中可能产生剧毒物质的试样的试验及储存
测试标准
GB/T 2423.1—2008 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验
GB/T 2423.2—2008 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验
GB/T 2423.22—2002 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3 部分：高温试验GJB
150.4A-2009 装备实验室环境试验方法第4 部分：低温试验GJB
150.5A-2009 装备实验室环境试验方法第9 部分：温度冲击试验
GJB360A-1996 电子及电器元件试验方法方法107 条件A、B、F
MIL-STD-202G METHOD 107G THERMAL SHOCK
GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 5170.1-2008 基本参数检定方法总则
GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备
环境试验设备温度、湿度校准规范：JJF1101—2003
