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Agilent4287A射频LCR测试仪

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更新时间：2022-08-11 10:19:51浏览次数：79次

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产品简介

Agilent4287A射频LCR测试仪【简述】：Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪产品状态:已停产Agilent4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率

详细介绍

Agilent4287A射频LCR测试仪: 【简述】：
Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪
产品状态:已停产 Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。生产率高，质量可靠
4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。
系统组建简单测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用 8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试.质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。技术指标：（全面的技术指标参见数据资料表）
测量参数：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同时显示4种测量参数）。测试频率：1MHz～3GHz频率分辨力：100KHz
测试信号：
V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz)I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)电平监视功能：电压，电流-基本的Z精度：±1.0%
测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)测量时间：每点9ms（速）Rdc测量：可用于触点检查
校准：开路/短路/负载/低损耗电容量,补偿：开路/短路,电长度大容量存储功能：30MB固态大容量存储或2 GB硬盘（选择选件）接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择)，处理器接口
显示：8.4英寸彩色LCD显示器
一般指标：电源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax，工作温度/湿度:5℃～40℃,相对湿度20%～80%尺寸：234mm高×425mm宽×445mm深（主机）重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头）; 【系列】：通用测试仪器