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Leeb436手持式表面粗糙度测量仪

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更新时间：2022-08-10 13:18:47浏览次数：295次

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青岛卓研测量仪器有限公司

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详情介绍感兴趣可以跟我司销售人员详细沟通技术参数项目Leeb436测量范围Z轴（垂直）320μm(Ra=30μm)X轴（水平）17

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技术参数

项目		Leeb436
测量范围	Z轴（垂直）	320μm(Ra=30μm)
	X轴（水平）	17.5mm
分辨率	Z轴（垂直）	0．01μm/±20μm
		0．02μm/±40μm
		0．04μm/±80μm
		0．08μm/±160μm
测量项目	参数	Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS)、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr、Rku、RΔa、RΔq、Rδc、Ry； Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2、V0；
	标准	ISO,ANSI,DIN,JIS
	图形	粗糙度轮廓，支承率曲线，直接轮廓
滤波器		RC,PC-RC,Gauss,D-P
取样长度(lr)		0.25,0.8,2.5mm
评定长度（ln）		Ln= lr×n n=1~5
传感器	测量原理	位移式差动电感
	触针	天然金刚石，90锥角，5μm针尖半径
	测力	<4mN
	导头	红宝石，滑行方向半径40mm
	滑行速度	lr=0.25, Vt=0.15mm/s
		lr=0.8, Vt=0. 5mm/s
		lr=2. 5, Vt=1mm/s
		返回 Vt=1mm/s
示值误差		不大于±10%
示值变动性		不大于6%
电源		内置锂聚合物充电电池，用8.4V,800mA充电器充电
外形尺寸		112×50×47mm
重量		约360g
标准配置		主机、标准传感器、多刻线样板、样板支架、活动支架，遥控器、电源适配器、仪器箱
选配件		可选配简易平台