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C测试仪 3506-10

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更新时间：2022-07-07 10:22:19浏览次数：102次

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上海君达仪器仪表有限公司

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产品简介

●模拟测量时间0.6ms(1MHz)的G速测量●提G了抗干扰性

详细介绍

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的G速测量
● 提G了抗干扰性，在产线的上也能实现G反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

基本参数

测量参数	C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围	C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度	(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率	1kHz, 1MHz
测量信号电平	500mV, 1V rms
输出电阻	1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示	LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间	1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能	BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源	AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 40VA
体积及重量	260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件	电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1