纳米颗粒分析仪SZ-100V2系列
概要
SZ-100V2 系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100V2的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。
颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm – 10 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。
SZ-100V2 以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择合适条件将颗粒进行絮凝和分离。
SZ-100V2 还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。
特征
·将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身
·宽检测范围，宽浓度范围
·双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
·多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光
·用于粒径和zeta电位检测的微量样品池
·自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
規格
-粒径：动态光散射原理（DSL）
测量范围
颗粒直径：0.3nm-10μm
测量精度
粒径：按照ISO 13321/22412
可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒：100nm测量精度= +/- 2%
浓度
下限：0.1 mg/mL
上限：40 wt % （视样品而定）
测量时间
粒径分析一般需大约2分钟(可自行设定)
样品池
比色皿样品池
取样量
12μl ～ 4ml* （* 取样量取决于样品池容量。）
-Zeta电位：激光多普勒法
测量范围
-500—+500mV
测量时间
一般需大约2分钟
样品池
专用一次性样品池
取样量
~100μl，一次性样品池
-分子量：静态光散射德拜曲线法
测量范围
Mw: 1×103 - 2×107 g/mol
样品池
比色皿样品池
物理参数
电源：AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA
激光：二极管泵浦倍频激光器 532 nm，10 mW I级
接口：USB 2.0，连接电脑与设备
外形尺寸：385(D) ´ 528(W) ´ 273(H) mm (不计凸起部分)
重量：25kg
控温范围：1-90℃，电极池和塑料池上限为70℃
工作环境：15-35℃，相对湿度≤85%，无结露
冷凝控制：可连接吹扫气
