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东莞市众升仪器有限公司
数字式四探针测试仪,半导体材料的电阻率测试仪简介: ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
数字式四探针测试仪,半导体材料的电阻率测试仪特点:
量程 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||||
基本误差 | ±2%FSB±4LSB | ±1.5%FSB±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB |
量程 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||||
基本误差 | ±1.5%FSB±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB±4LSB |
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