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东莞市众升仪器有限公司
半导体静电放电发生器是专门为半导体器件及IC的抗静电测试而设计,参照国家标准GJB548A-96方法3015、国家标准GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的测试要求。电脑控制,全部参数数字设定。输出电压精度高,性能稳定,测试结果精 确。采用探针夹,使用灵活方便。
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