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点将(上海)科技股份有限公司
用途:PlantScreenSC植物表型成像系统适用于生长在可控生长因素的环境或温室内的植物,系统可以在时间和空间尺度上自动进行植物表型成像测量
·植物光合性能研究;
·生物和非生物胁迫研究;
·突变体筛选;
·选育、育种;
系统主体 | |
传送单元 | 手动 |
光适应室 | LED光源,光强达1000μmol/m2.s,无热效应,强度0-99%可调,可通过实验程序预设光照周期变化 |
条形码识别 | RFID读取器辨识,距离2-20cm,RS485通讯,可读取1维、2维和QR码,具LED光源便于弱光下辨识 |
叶绿素荧光成像系统 | |
测量和计算的参数 | Fo, Fm, Fv, Fo’, Fm’, Fv’, Ft, Fv/Fm, Fv’/Fm’, Phi_PSII, NPQ, qN, qP, Rfd等几十个叶绿素荧光参数 |
测量单元 | 高分辨率CCD相机 |
成像面积 | 可达80cm x 80cm |
测量光 | 橙色620nm |
光化学 | 橙色和白色双色光,光强达到2000 µmol.m-2.s-1 |
饱和光 | 白色或蓝色,光强可达6000μmol.m-2 .s-1 |
附加光 | 远红光(735nm)用于Fo’测量,蓝光(450nm)用于GFP荧光蛋白激发 |
滤波轮 | 7位 |
高光谱成像 | |
测量参数 | 归一化指数、简单比值指数、改进的叶绿素吸收反射指数、优化土壤调整植被指数、绿度指数、改进的叶绿素吸收反射指数、转换类胡萝卜素指数、三角植被指数、ZMI指数、简单比值色素指数、归一化脱镁作用指数、光化学植被反射指数、归一化叶绿素指数、Carter指数、Lichtenthaler指数、SIPI指数、Gitelson-Merzlyak指数 |
波长范围 | 400到2500nm |
VNIR镜头光谱范围 | 380-1000nm,光圈F/0.2,缝隙宽度25μm,缝隙长度18mm,帧速12-236 fps;SWIR镜头波段900-2500nm,光圈F/0.2,缝隙宽度25μm,缝隙长度18mm,帧速60或100 fps,视野150x100cm |
成像视角 | 顶视和侧视 |
热成像 | |
分辨率 | 640x480nm |
温度范围 | 20-120°C |
灵敏度 | NETD<0.05°C@30°C/50mK |
成像面积 | 150x150cm |
成像视角 | 顶视和侧视 |
产地:捷克
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