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当前位置:北京天裕德科技有限公司>>>>TYD-MCL型少子寿命测试仪

TYD-MCL型少子寿命测试仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号TYD-MCL

品       牌

厂商性质其他

所  在  地北京市

更新时间:2022-04-09 13:37:10浏览次数:151次

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所在地区:北京北京市

产品简介

少子寿命测试仪配备有红外光源,可测量包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命

详细介绍

少子寿命测试仪配备有红外光源,可测量包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命

  1、仪器测试精度:≤±0.5%;
  2、可测少子寿命范围:0.1μs~7000μs;
  3、测试电阻率范围:≥0.1Ωcm 可扩展到0.01Ωcm;
  4、配备光源类型:波长:980±30nm;
  5、高频振荡源:用石英谐振器,振荡频率:30MHz;
  6、前置放大器:放大倍数约25,频宽2Hz~1MHz;
  7、测量方式:采用对标准曲线读书方式。

 

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