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EDX600增强型

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更新时间：2023-02-24 16:33:26浏览次数：126次

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产品简介

EDX600增强型是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪

详细介绍

EDX600增强型是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行*检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

技术参数：

测量元素范围： 13铝AI～92铀U之间的元素均可测量

同时检测镀层及元素可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素

检出限金属镀层分析*薄可达0.005μm

厚度范围分析镀层厚度一般在50μm以内

厚度测试精度 <5%>

含量测试范围 0.1%--99.9%

含量检测精度＜0.5%

稳定性多次测量重复性可达1%

检测时间 5-40秒

高压单元进口大功率高压单元

探测器及分辨率 140±5eV 大窗口SDD半导体Be窗探测器

X射线装置 100W高功率微聚光W靶光管

多道分析器 DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道

准直器和滤光片标配标配Φ0.2mm;选配 0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.3mm或其他孔径

*小测试直径 Al或Ni滤光片Ф0.1mm

样品观察工业级高敏感摄像头，图像可放大30倍，实现微小样品清晰定位

样品移动平台手动高精度移动平台

对焦手动测距对焦

分析方法 FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法

安全性 FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法

外型尺寸用户安全

样品室尺寸 497（W）×427（D）×468（H）mm

415（W）×374（D）×218（H）mm

操作环境温湿度 0~30℃，湿度≤70%

工作电源交流220±5V

硬件配置：

采用高分辨率的SDD探测器，分辨率高达140EV

进口的大功率高压，让Ag,Sn等镀层的测量能更

加稳定。

配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮

增压，让数据的准确性更上层楼。

多种准直器可搭配选择：

0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3m

m。贴心打造出*适合您的那一款

设计亮点：

全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标

键盘不再成为必须，极大减少您摆放样品的时

间。

全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现

了对更小产品的测试。

搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补

正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱

形，螺纹，曲面等）的异型测试面的*测试。

结论：经实测，EDX600增强型针对镀层厚度分析，尤其是微小样品的厚度检测，有着非常*的稳定性与精密

度，去测试效果可以与高倍数的电子显微测试精度媲美。

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