当前位置：江苏天瑞仪器股份有限公司>>能量色散X射线荧光光...>>X荧光镀层测厚仪型号：Thick8000

X荧光镀层测厚仪型号：Thick8000

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号

品牌

厂商性质其他

所在地

在线询价收藏产品

更新时间：2022-02-09 10:34:27浏览次数：364次

联系我时，请告知来自智慧城市网

产品分类 品牌分类

  能量色散X射线荧光光...

全部产品列表

暂无信息

江苏天瑞仪器股份有限公司

经营模式：其他

商铺产品：780条

所在地区：

联系人：李先生

询价 给他留言

产品简介

1、仪器概述Thick8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器

详细介绍

1、仪器概述

Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

4、测试实例

在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。

Thick 8000检测谱图

某国外仪器检测谱图

11次测量结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：

次数	Thick8000	行业内其他仪器
1	0.042	0.0481
2	0.043	0.0459
3	0.043	0.0461
4	0.0412	0.0432
5	0.0429	0.0458
6	0.0436	0.0458
7	0.0427	0.0483
8	0.0425	0.045
9	0.0416	0.0455
10	0.0432	0.0485
11	0.0422	0.043
平均值	0.0425	0.0459
标准偏差	0.0007	0.0019
相对标准偏差	1.70%	4.03%
极差	0.0024	0.0055