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合肥含铭电子技术有限公司
阅读:120发布时间:2021-11-29
试片用于验证磁粉检测综合性能(系统灵敏度)。A型试片,适用于在较宽大或平整的被检表面上使用:C型和D型试片,适用于较窄小或弯曲的被检表面。高灵敏度的试片,用于验证要求有较高检测灵敏度的磁粉检测综合性能,低灵敏度试片,用于验证要求较低检测灵敏度的磁粉检测综合性能。只有符合要求的磁粉检测综合性能,相应的磁粉检测结果才是有效的和可靠的。
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