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ISS 激光共聚焦快速荧光寿命成像系统FLIM/FCS

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更新时间:2021-11-06 17:51:13浏览次数:484次

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产品简介

详细介绍

激光共焦多维成像系统:

    FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统:

      ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps (@256×256),自由选择1×1到4096×4096像元分辨率;同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据,保持单分子级的检测灵敏度。

    用于化学、纳米、能源、生物等学科方向,单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。

     ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任,实现共焦三维扫描模块(针孔,二维振镜、压电台或自动工作台)和时间分辨模块的结合,提供<100ps-100ms的全时域荧光寿命检测;同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术,可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。

         荧光寿命成像数据分析进入直读时代

    ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统,还可以同时满足以下特殊需要:

    1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像;

    2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像;

    3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像;

    4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ; 

    5. 光谱采集及光谱成像;

    6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用;

    7. 纳米颗粒三维跟踪;(专有技术)   


主要功能描述:(可以选择双光子功能)

    1. 激光共焦荧光强度成像LCM;

    2. 光寿命成像FLIM,磷光寿命成像PLIM;

    3. 上转换荧光(寿命)成像,稀土发光(寿命)成像,延迟荧光(寿命)成像;

    4. 荧光波动成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),

    5. FLIM-FRET成像;荧光定量成像;

    6. 单量子点发光(寿命)成像,单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET,包括交替激发PIE成像;

    7. 稳态及瞬态偏振成像;

    8. 微区荧光光谱采集 400-1100nm;

    9. 反聚束测试(含专业软件);

    10. 活细胞工作站升级(含多孔板

      仪器特点: 

  • 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势,FRET效率分布;

  • 选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像,FLIM-FRET;

  • 可以升级无波长干扰AFM(正置或倒置),实现同区域形貌和FLIM同步测试;

  • 紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;单光子或双光子的激光器


  主要技术指标 

1. 荧光寿命测试范围:100ps-100ms;

2. 最小时间分辨率≤1ps;

3. 数据计数速率:65 MHz/channel

4. 检测通道:upto 8 channels;

5. 标配xy振镜扫描,5kHz扫描频率,配合xy闭环自动台实现大区域扫描;

6. Phasor plots 用于数据分析;

7. 光谱采集;400-1100nm

8. 扫描透射成像;

9. 界面聚焦系统;

10. 变温附件;77k-500k;



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