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深圳市金检时代科技有限公司
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SE-PDR01离线式工业DR采用自主研发的碳纳米管X光管以及高分辨率平板探测器，能够快速获取优质的二维检测图像。分辨率可达到2.5μm，轻松胜任各种物体的尺寸和缺陷检测需求。广泛应用于新产品研发及质量抽检、失效分析。
产品优势
高光子效率碳纳米管一体化X射线源
支持多角度2.5D检测(可升级为3D)
可提供定制化软件功能
一键获取高分辨率的图像
应用领域
SMT制程bga缺陷检测
微型发光二极管芯片/芯片检测
Pcb内层尺寸和缺陷检测
线键合缺陷检测
IGBT元件缺陷检测
材料分析
电子连接器
系统规格
系统参数
灰度等级：14/16位
系统分辨率：2.5μm.
标准外形尺寸：1454 x 1360 x 1785 mm
整体重量：1000公斤
载物台尺寸：510 x 440 mm
倾斜角度：60°
探测器
探测器类型：数字平板探测器
像素尺寸：49.5μm(可选配更高级别)
像素数量：1300x1152(可选配更高级别)
成像面积：64x57毫米(可选配更高级别)
X射线源
工作电压：90~150千伏
工作电流：10~150μA
焦点尺寸：3~15μm(可选)
光管类型：闭管
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