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昆山友硕新材料有限公司
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借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
一个CT系统，兼具多种优势
ZEISS METROTOM 1使用工业计算机断层扫描技术，是升级您的质量检查产品组合的理想设备。CT系统拥有许多优势：
操作简便
ZEISS METROTOM 1是以用户为基础建造的。安装过程简单，只需进行少量培训就能使用CT。只需轻轻一点，即可开始扫描流程!
精准的测量
小而*：您可以使用ZEISS Metrotom 1测量并评估完整的零件。这样，您可以信赖您的测量，进行准确的数模比对、尺寸检查和壁厚分析。
占地面积小
蔡司METROTOM 1非常紧凑。尺寸为1750 mm(长) x 1820 mm(高) x 870 mm(宽)。这意味着CT系统适合任何测量实验室——可以让您在公司内部进行测量和质量保证，而无需外部测量服务。
投资回报快
购置成本低，且得益于合宜的系统维护保养费用，您的设备持有将变得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射线管无需维护保养。
X射线源 | 160 kV |
X射线探测器 | 2.5 k |
测量容积 | 165 x 140 mm |
测量规格(MPE SD) | < 5 μm |
尺寸 | 1750 mm（宽） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚） |
重量 | 2100 kg |
软件 | GOM Volume Inspect体积检测（已包含） |
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