MarSurf M300移动式粗糙度仪
笃挚仪器代理的MarSurf M300表面粗糙度仪应用MarSurf PS1/M 300 Explorer软件的本功能是可靠的记录你所测量得的结果和外形轮廓；储存在MarSurf M 300中的数据能够以任何格式打印出来，测量的数据能够以不同的形式显示出来。
型号：MarSurf M300 C
探头系统：探头系统
表面粗糙度测量范围：350μm180μm90μm
表面粗糙度扫描路径：1.75mm 5.6mm 17.5mm
表面粗糙度分辨率：0.032μm0.016μm0.008μm
移动式粗糙度测量装置，带有滑动式探头的外部进料单元，价格良好，性能优异，仪器操作简单，量范围可达350μm（.014 in）。 自动选择过滤器和符合标准的运行长度。 集成内存，zui高可达40,000次测量，30个配置文件和15种语言。
德国马尔MarSurf M 300精密型表面粗糙度仪特点
- 测量范围可达350微米（0.014英寸）
- 单位um/μinch可选
- 标准:ISO/ASME/JIS/MOTIF可选
- 移动长度依据 DIN EN ISO 4288 / ASME B46.1： 1.75毫米，5.6毫米，17.5毫米（0.07，0.22，0.7）
依据EN ISO 12085：1毫米，2毫米，4毫米，8毫米，12毫米，16毫米 - 取样长度从1到5长度可选
- 依据标准自动选择滤波器和截至长度
- 符合DIN EN ISO 11562标准的相修整轮廓滤波器
- 截止波长0,25毫米0,80毫米2,50毫米（0.010，在0.032，在0.100英寸）
- 自动选着评定长度
- 测量参数依据:DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Rv,Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, Rsk,JIS: Ra, Rz, RzJIS, Sm, S, tp,ASME: Rp, Rpm,MOTIF: R, Ar, Rx, W, CR, CL, CF
- 公差显示和自动记录测量结果
- 自动或可调缩放比例
- 打印R轮廓（ISO/ASME/JIS），P轮廓（MOTIF）材料弯曲率，测量结束，
- 日期和/或测量的时间
- zui大可储存40,000个测量结果和30个外形轮廓
- 动态校准功能
- 锁定/或仪器设置密码保护
