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成都善荣机电设备有限公司
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SICK测距传感器适用性分析
OD Value测量范围从26~34 毫米至60~180毫米，且测量精度在2微米到30微米之间，能适应不同的应用场合。OD Value内部采用了CMOS技术，因此它能够精确的测量不同明暗对比度和反射性很强的材质表面。OD Value测量精度和重复精度高，具有很高的可靠性，且使用简单、接口类型丰富，性价比，是一款非常有竞争力的产品。
SICK测距传感器适用性分析
型号丰富
新的 OD Value提供多种型号，能为不同的应用场合提供合适的解决方案。
精确性高
OD Value 为质量检验和过程控制建立了新的标准。
CMOS接收元件为不同表面测量提供优异的精度
简单, 带LED指示的自学习
具备多种接口形式可选
成熟的激光技术适宜小物体的精确测量
高度集成，独立使用
*的性价比
SICK测距传感器适用性分析
性能优越
OD Value具有很高的重复精度，在许多不同材料和表面的高度精确测量中体现了的性能。
易于使用
OD Value在同类型位移传感器中安装使用较简单，轻松应对许多苛刻的应用条件和场合。
性价比高
OD Value在同类型产品拥有出色的性价比。
为需要高精度测量的应用提供了准确的距离测量。测量量程可达1000mm。
其高精度特别适合生产过程的质量控制、分类和检查任务。目标应用包括测量尺寸、位置、外形和加工误差。
能够提高产品质量，同时降低时间和材料成本。
多种量程选择，从26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 400 mm
高精度、高可靠性，使用维护方便
快速的响应时间保证测量速度和效率
使用了高阻抗材料对抗恶劣的工作环境
在测量高度及距离变化的应用中体现了优越的性能
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