高频介电常数测试仪
产品简介
高频介电常数测试仪是采用当前*的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、ZUI快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。
支持20V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用户扩展元件全面评价的能力。
是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。
以其性能可以实现如IEC和MIL标准的各种测试。
功能特点
高精度
自动平衡电桥与普通LCR电桥相比，它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度！自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。
高稳定性和高一致性
仪器稳定数据准确
高速度
测试速度快
应用
■ 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
■ 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗
评估
■ 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
性能特点
测试频率：20Hz-2MHz，分辨率：zui高0.1
基本精度：0.05%
测试速度：zui快5.6ms/次
测试原理：自动平衡电桥
高稳定性和一致性：高达15个测试量程配置
高分辨：7英寸，800×600分辨率
多功能参数列表扫描
多参数图形化扫描功能
变容二极管自动极性功能
10档分选功能，分选结果声光报警
存储空间：内置40组设定文件，USB扩展500组设定文件、数据记录文件、图片文件
Ls-RDC同时测试
高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A等应用
