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介质损耗测试仪

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产品型号ZJD-C型

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所在地北京市

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更新时间：2019-07-30 10:53:55浏览次数：134次

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北京航天纵横检测仪器有限公司

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产品简介

ZJD-C型介质损耗测试仪*的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

详细介绍

机台型号：ZJD-C、ZJD-B型介质损耗测试仪

一、概述：
ZJD-C、ZJD-B型介质损耗测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数（ε ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、测试原理：
采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q 值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q 表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q 值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达 0.0033pF 的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

三、主要技术特性：

*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～25nF

7．主电容调节范围： 17～240pF

8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆，平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm；液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C

配合使用补充说明

因ZJD-B/ZJD-C型Q表xin增加了介质损耗系数tgδ的测试功能，特

增加此S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用补充说明。ZJD-B/ZJD-C型Q表的介质损耗系数tgδ的测试功能省去了人工的计算，将大大地方便介质损耗系数tgδ的测试。有关S916介质损耗测试装置的使用可参阅S916数显介质损耗测试装置使用说明。

使用方法：

把S916介质损耗测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
在电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
先测出损耗测试装置在测试状态下的机构电容CZ

a. 把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松）。然后取出平板电容器中的样品，

但要保持平板电容器间的间距不变。

b. 改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上；电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

4．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。

把被测样品插入二极片之间，改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。然后按一次 Q表上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将

显示C0= x x x，此时可输入分布电容值。分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和。分布电容值输入的有效位为3位，0.1pF至99.9 pF，输入时不需输入小数点，只需输入3位有效数。例0.1pF，只需输入

001；99.9pF，只需输入999。

同时，显示屏上原C和Q显示变化为C2和Q2。

b．取出平板电容器中的样品，（保持平板电容器间的间距不变）这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。

c. 第二次按下 Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。

5.出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

北京航天纵横检测仪器有限公司

注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。

ZJD-B介电常数和ZJD-C介电常数主要区别

	ZJD-B	ZJD-C
测试频率范围	10kHz～70MHz	100kHz～160MHz
主调电容控制	传感器	步进马达
电容搜索	无	有

ZJD-B/ZJD-C介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

ZJD-B/ZJD-C介电常数是北京航天纵横检测仪器有限公司zui

新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达

60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。ZJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。ZJD-C介电常数测试仪主电容调节用

步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。ZJD-B/ZJD-C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。ZJD-B/ZJD-C*的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

二、工作特性：

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023；

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

c．标称误差

	ZJD-B	ZJD-C
频率范围	10kHz～10MHz	100kHz～10MHz
固有误差	≤5％±满度值的2%	≤5％±满度值的2%
工作误差	≤7％±满度值的2%	≤7％±满度值的2%
频率范围	10MHz～70MHz	10MHz～160MHz
固有误差	≤6％±满度值的2%	≤6％±满度值的2%
工作误差	≤8％±满度值的2%	≤8％±满度值的2%

2．电感测量范围

ZJD-B	ZJD-C
14.5nH～8.14H	4.5nH～140mH

3．电容测量

	ZJD-B	ZJD-C
直接测量范围	1～460p	1～202p
主电容调节范围	40～500pF	18～220pF
准确度	150pF以下±1pF； 150pF以上±1%	150pF以下±1pF 150pF以上±1%

注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

4．信号源频率覆盖范围

	ZJD-B	ZJD-C
频率范围	10kHz～70MHz	0.1～160MHz
CH1	10～99.9999kHz	0.1～0.999999MHz
CH2	100～999.999kHz	1～9.99999MHz
CH3	1～9.99999MHz	10～99.9999MHz
CH4	10～70MHz	100～160MHz
频率指示误差	3×10-5±1个字

介质损耗测试仪

*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～25nF

7．主电容调节范围： 17～240pF

8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆，平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

因ZJD-B/ZJD-C型Q表xin增加了介质损耗系数tgδ的测试功能，特

把S916介质损耗测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。

在电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。

先测出损耗测试装置在测试状态下的机构电容CZ

a. 把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松）。然后取出平板电容器中的样品，

但要保持平板电容器间的间距不变。

b. 改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上；电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

4．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。

把被测样品插入二极片之间，改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。然后按一次 Q表上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将

显示C0= x x x，此时可输入分布电容值。分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和。分布电容值输入的有效位为3位，0.1pF至99.9 pF，输入时不需输入小数点，只需输入3位有效数。例0.1pF，只需输入

001；99.9pF，只需输入999。

同时，显示屏上原C和Q显示变化为C2和Q2。

b．取出平板电容器中的样品，（保持平板电容器间的间距不变）这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。

c. 第二次按下 Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。

5.出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用 ，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。

ZJD-B

ZJD-C

测试频率范围

10kHz～70MHz

100kHz～160MHz

主调电容控制

传感器

步进马达

电容搜索

无

有

ZJD-B/ZJD-C介电常数是北京航天纵横检测仪器有限公司zui

新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达

60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。ZJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。ZJD-C介电常数测试仪主电容调节用

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023；

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

c．标称误差

ZJD-B

ZJD-C

频率范围

10kHz～10MHz

100kHz～10MHz

固有误差

≤5％±满度值的2%

≤5％±满度值的2%

工作误差

≤7％±满度值的2%

≤7％±满度值的2%

频率范围

10MHz～70MHz

10MHz～160MHz

固有误差

≤6％±满度值的2%

≤6％±满度值的2%

工作误差

≤8％±满度值的2%

≤8％±满度值的2%

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm；液体杯内径Φ48mm 、深7mm

注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。