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介电常数测试仪ZJD-B/ZJD-C

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产品型号ZJD-C型

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所在地北京市

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更新时间：2019-07-15 17:52:54浏览次数：222次

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北京航天纵横检测仪器有限公司

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产品简介

ZJD-B/ZJD-C介电常数测试仪ZJD-B/ZJD-C能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

详细介绍

S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C

配合使用补充说明

因ZJD-B/ZJD-C型Q表增加了介质损耗系数tgδ的测试功能，特

增加此S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用补充说明。ZJD-B/ZJD-C型Q表的介质损耗系数tgδ的测试功能省去了人工的计算，将大大地方便介质损耗系数tgδ的测试。有关S916介质损耗测试装置的使用可参阅S916数显介质损耗测试装置使用说明。

使用方法

把S916介质损耗测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
在电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
先测出损耗测试装置在测试状态下的机构电容CZ

a. 把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松）。然后取出平板电容器中的样品，

但要保持平板电容器间的间距不变。

b. 改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上；电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

4．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。

把被测样品插入二极片之间，改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。然后按一次 Q表上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将

显示C0= x x x，此时可输入分布电容值。分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和。分布电容值输入的有效位为3位，0.1pF至99.9 pF，输入时不需输入小数点，只需输入3位有效数。例0.1pF，只需输入

001；99.9pF，只需输入999。

同时，显示屏上原C和Q显示变化为C2和Q2。

b．取出平板电容器中的样品，（保持平板电容器间的间距不变）这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。

c. 第二次按下 Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。

5.出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

北京航天纵横检测仪器有限公司

注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。

ZJD-B型介电常数及介质损耗测试仪

技术参数：

*1.信号源: DDS数字合成信号 10KHZ-70MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF

*7．主电容调节范围：30～540pF

8.准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆

平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm；液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280
重量约：7KG

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北京航天纵横检测仪器有限公司

S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C

配合使用补充说明

因ZJD-B/ZJD-C型Q表增加了介质损耗系数tgδ的测试功能，特

使用方法

把S916介质损耗测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。

在电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。

先测出损耗测试装置在测试状态下的机构电容CZ

a. 把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松）。然后取出平板电容器中的样品，

但要保持平板电容器间的间距不变。

b. 改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上；电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

4．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。

把被测样品插入二极片之间，改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。然后按一次 Q表上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将

显示C0= x x x，此时可输入分布电容值。分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和。分布电容值输入的有效位为3位，0.1pF至99.9 pF，输入时不需输入小数点，只需输入3位有效数。例0.1pF，只需输入

001；99.9pF，只需输入999。

同时，显示屏上原C和Q显示变化为C2和Q2。

b．取出平板电容器中的样品，（保持平板电容器间的间距不变）这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。

c. 第二次按下 Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。

5.出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

北京航天纵横检测仪器有限公司

注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用 ，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。

ZJD-B型介电常数及介质损耗测试仪

技术参数：

*1.信号源: DDS数字合成信号 10KHZ-70MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF

*7．主电容调节范围：30～540pF

8.准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆

平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280

重量约：7KG

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注： S914介质损耗测试装置也可参照S916数显介质损耗测试装置与ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用时把S914的圆桶电容器置于一个固定位置。

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm；液体杯内径Φ48mm 、深7mm