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冲击试验用高温箱

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更新时间：2019-04-03 13:56:58浏览次数：414次

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东莞市爱佩试验设备有限公司

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所在地区：广东东莞市

联系人：李冬梅（销售）

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产品简介

冲击试验用高温箱半导体器件（semiconductor device）通常，这些半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。

详细介绍

爱佩冲击试验用高温箱质量优势：主要核心配件均采用*的配件如法国泰康或德国比泽尔压缩机，控制器有韩国三元、日本OYO、中国台湾台通三*供客户选择，继电器有日本路宫、和泉、三菱、施耐德，美国杜邦环保冷媒，丹麦(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，假一罚十，能确保冷热冲击试验箱*正常高效的运行。

半导体器件（semiconductor device）通常，这些半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件（即晶体二极管）的基本结构是一个PN结。利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。晶体二极管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波。三端器件一般是有源器件，典型代表是各种晶体管（又称晶体三极管）。

冲击试验用高温箱技术参数表：

性能	高温室	预热温度范围	＋60～＋200℃
		升温速率※1	＋60→＋200℃≤30分钟
	低温室	预冷温度范围	－75－0℃
		降温速率※1	＋20→－75℃≤30分钟
	试验室	温度偏差	±2℃
		温度范围	TSL:（+60→+150）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		温度恢复时间※2	5分钟以内