冲击低温槽技术参数：
规格型号：AP-CJ-50/80/100/150/252/480(请根据容积大小配相关型号）
以上型号的数字代表的是容量：50升（L）、80升（L）、100升（L）、150升（L）、252升（L）、480升（L）。
内箱尺寸（宽*高*深）：350X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（mm）
外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（mm）
试验温度范围：A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-65℃～-10℃、-75℃～-10℃
高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN
温度波动度：±0.5℃
温度均匀度：±2.0℃
温度转换时间：10秒钟内
温度稳定时间：3~5分钟内
内箱材质：SUS304优质不锈钢
外箱材质：SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理
冷冻系统：制冷系统为复叠式制冷，原装法国进口泰康压缩机或原装德国进口比泽尔压缩机，配R404A、R23A美国杜邦环保冷媒，冷却方式：水冷或风冷（可选择）。
控制器系统：韩国TEMP或日本OYO彩色触摸式控制器（智能型温湿度可程式控制器以液晶屏方式显示温湿度值，有加热器、传感器故障指示、变送功能、带有RS/232或RS/485通讯接口可供远程监控，用户可通过触屏编程自行设定系统参数）。
冲击低温槽满足以下标准：
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
GB/T2423.22-1989温度变化试验；
GB/T 2423.22-2002温度变化
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。
