HIOKI飞针测试机FA1116_日置
——Max.100点/秒的高速测试，针痕深度减半
HIOKI日置飞针测试机FA1116特点
·电容法测量,高速光板测试机
·Max.100点/秒的高速测试
·镀金基板及微细线路基板的测试时间提升30%
·搭配新型探针CP1702-01以及软着陆控制，实现微细线路的高速测试
·通过5aF的高分辨率的电容法测量，可检出单独线路欠缺的微细不良
·从一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微细、高精密基板都可检测
·小焊盘尺寸15um
·除电容法测量外，标准配备电阻、电感、二极管以及电压测量。另外通过MLCC测量功能，在JIS规格要求下也可实现电容测量。
·通过丰富的测量功能及选件单元的结合，减少待测基板在现场的停放时间
HIOKI FA1116飞针测试机规格
手臂数量 2
测试步数 多40,000步/piece
300,000步/sheet
测试范围 DC测量功能
电阻:400μΩ~40MΩ
电容:4μF~400mF
二极管、三极管(VF):0~25V
齐纳二极管(VZ):0~25V
短路:400mΩ~40kΩ
开路:4Ω~4MΩ
电压:0~25V
AC测量功能
电阻:100Ω~100MΩ
电容:10fF~10μF
电感:10μH~100mH
测试时间 Max.100points/s
(0.1mm移動, 2アーム同時プロービング, 容量測定時)
探针可测区域 610W×510D mm
可测基板尺寸 厚度:0.1~3.2mm
外形:50W×50D~610W×510mm
元件搭载范围:上测10mm(含板厚),下侧:0.1mm
基板传送 无自动传送规格
电源 AC200V±10%(单相)50/60Hz,3kVA
尺寸·重量 1443W×1656H×1185D mm,1000kg
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