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北京智德创新仪器设备有限公司
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介质损耗角正切值试验仪的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至0低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。
介质损耗角正切值试验仪
介质损耗角正切值试验仪参数设置：
功能名称： | ZJD-A | ZJD-B | ZJD-C |
信号源范围DDS数字合成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 100KHZ-160MHz |
信号源频率精度:6位有效数 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 |
Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 |
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 |
Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围:4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
电感测量误差 | <5% | <5% | <5% |
调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF |
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
调谐电容误差 | ±1 pF或<1% | ±1 pF或<1% | ±1 pF或<1% |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
LCD显示参数 | F，L，C，Q，Lt，Ct等 | F，L，C，Q，Lt，Ct等 | F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等 |
残余电感自动扣除功能 | 有 | 有 | 有 |
大电容值直接测量显示功能 | 测量值可达2.5uF | 测量值可达2.5uF | 测量值可达25nF |
介质损耗系数 | 精度 万分之一 | 精度 万分之一 | 精度 万分之一 |
介电常数 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料测试厚度 | 0.1mm-12mm | 0.1mm-12mm | 0.1mm-12mm |
介电常数 | 手动测试 | 手动测试 | 自动测试 |
USB接口 | 支持介电常数输出以及产生曲线 |
介电性能定义：介电性能是指在电场作用下,表现出对静电能的储蓄和损耗的性质，通常用介电常数和介质损耗来表示.
介电常数定义：
介电常数，又称电容率〔permittivity 〕,是电位移D与电场强度E之比ε= D/E ，其单位为F/m 。
介电常数小的电介质，其分子为非极性或弱极性构造，介电常数大的电介质，其分子为极性或强极性构造。
介电常数是表征电介质的最根本的参量，是衡量电介质在电场下的极化行为或储存电荷能力的参数。
电介质电容、介电常数
真空电容 C0=Q0/V=e0s/d
电介质电容 C=Q/V=ereos/d
相对介电常数 εr = C/C0
Co = Q/V = eoA/d
C = eA/d er= e /eo
介电损耗 Dielectric loss
介质的介电损耗是指电介质在单位时间内每单位体积中将电能转换为热能而损耗的能量。
电介质的介电损耗一般用损耗角正切tand 表示，并定义为：
tand=介质损耗的功率（即有效功率）/无功功率
同时，介电损耗也是表示绝缘材料〔如绝缘油料〕质量的指标之一。介电损耗愈小，绝缘材料的质量愈好，绝缘性能也愈好。
tanδ=1/WCR(式中W为交变电场的角频率；C为介质电容；R为损耗电阻)。
tand是频率的函数，是电介质的自身属性，与试样的大小和形状无关。可以和介电常数同时测量，用介质损耗仪、电桥、Q表等测量。
电导时tand与频率ω的关系
介电损耗的形式
电介质在电场作用下，内部通过的电流包括：
〔1〕电容电流：由样品的几何电容充电引起电流〔位移电流〕；
〔2〕吸收电流：由松弛极化引起，是介质在交变电压作用下引起介质损耗的主要来源；
〔3〕漏电电流：由介质电导引起，与自由电荷有关，使介质产生电导损耗。
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