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笃挚仪器（上海）有限公司
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GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪GalvanoTest2000库伦测厚仪是基本型号，可测量各种涂层/基底组合，无需任何附件
GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪
GalvanoTest 2000库伦测厚仪是基本型号，可测量各种涂层/基底组合，无需任何附件。设计为易于使用，这种模式受推荐用于测量多层应用。
●几乎测量任何电镀涂层/基底组合
●适用于单层和多层涂层
●使用库仑法原理，符合DIN 50 955和ISO 2177的去镀方法也适用于0.05微米的极薄涂层
库仑或阳极去镀技术用于测量几乎所有基材如钢，有色金属或绝缘材料基材上的电镀涂层的厚度。 典型应用包括：钢上镍，钢上锌，铜锡，银铜或环氧树脂。
统计计算
显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、大、小值、读数个数
立即或稍后显示统计值
显示、打印年、月、日、时、分
用于外设的计算机接口：
MINIPRINT 微型打印机接口
RS-232，PC计算机接口
连接x-t计录仪模拟电压输出接口
笃挚代理出售的德国EPK GALVANOTEST2000库伦测厚仪主要是针对一些塑料、薄膜等行业的一些电镀件，可测实际应用的所有镀层，比如说，塑料上镀锌、镀银、镀铜等，GALVANOTEST 2000可以测试单层或多层镀层的厚度。利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层，符合标准：DIN EN ISO 2177，仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。
GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪
GalvanoTest 2000，应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需要专业知识。
技术数据：
测量范围：大测量范围：0.05-75μm
测量范围：0.05～75μm
可以测量70种以上的镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镊、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn锡、Pb铅、Cd镉、Au金
用户可另设8种金属的测量参数
测量面积：0.25/4/8mm2
存储：2000个读数和统计值
统计功能：平均值、标准偏差、变异系数、大、小、读数个数
接口：RS232接口可连接计算机和打印机
笃挚仪器（上海）有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴，凭借种类齐全的产品资源和服务，涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备，努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战，共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。
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