微电脑二氧化硅浓度测定仪 H5ET8100 返回列表页

微电脑二氧化硅浓度测定仪 H5ET8100 

测量范围0.00 to 4.00 mg/L SiO2
测量精度：读数的±2%±0.02mg/L
光学系统：防水样品池，具有温度补偿LED光学系统，580 nm波长
校正模式：自动零点校正，采用SMD微处理技术，具有出厂校准与用户自定义双校准模式
GLP功能：内置实时时钟，背景灯显示，防水操作
电源模式：1×9V电池；具有自动关机节电功能
微电脑二氧化硅浓度测定仪 H5ET8100 
适用环境：
温度：0 to 40℃
相对湿度30 to 90%（无冷凝）
尺寸重量：
主机尺寸：170 × 65 × 45 mm
主机重量：200g

 
认证：
DIN EN 50081-1 VDE 0839 part 81-1: 1993-03
DIN EN 50082-2 VDE 0839 part 82-2: 1996-02
标配试剂：
H5ET517671二氧化硅试剂
类型：片剂
标识：Silica
包装：100次
标准配置H5ET8100主机，H5ET517671二氧化硅试剂，H5ET197621比色皿，H5ET731318清洗布，中英文手册，携带箱