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深圳东仪精工设备有限公司
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①在测定塑料样品时的注意点
XRF荧光光谱仪SEA1000S 建议使用的样品厚度在0。5mm以上，面积在φ5mm以上。建议多集中些小的样品并
将样品重叠或排列之后进行测定。
①在测定塑料样品时的注意点
建议使用的样品厚度在0。5mm以上，面积在φ5mm以上。建议多集中些小的样品并
将样品重叠或排列之后进行测定。
XRF荧光光谱仪SEA1000S在测量线状(圆柱形)的样品时，请将样品竖着放在测量范围的*，而且尽可能将样
品的底部保持平坦来放置。
XRF荧光光谱仪SEA1000S
在样品中含有砷(As)场合就算不含有铅，由于砷的影响会被误测定。另外在同时含有砷
和铅的场合铅的值会被较多地测定出来。
②在测定电线或接头等含有金属的塑料样品时的注意点
请将含塑料多的部分朝下放置。
如果定量结果超过基准值的时，请将金属部分除去再测定一次。
③在测定金属样品(不包括Al·Mg合金)时的注意点
在测定金属中的管理元素时，请使用「块体FP法(metal。bfp)」。
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
④在测定Al·Mg合金样品时的注意点
?在测定Al合金及Mg合金的样品时请使用「块体标准曲线法」。
定量值的信赖性要比塑料差。
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
⑤在处理管理元素的测定结果比管理值高时的例子
请测定同一批的样品，确认是否出现相同程度的结果。
请确认在能谱中是否明显地出现管理元素的波峰。
请确认标准物质的测定是否正确。
在进行塑料分析时通过能谱确认是否含有大量的金属。
将测定所得到的能谱保存在电脑中，请将样品以ICP进行分析。
⑥其他
测量小样品时，荧光X射线较弱所以造成测量值的偏差变大。为了避免此种误差，
尽可能将样品大量集中来测量，这样的话，可以提高测量精度。
请从测量结果确认理论统计变动值（1σ）。如果这个值太大的话，请延长测量时间。
测量时间增加4倍的话，测量值的偏差将减少一半。
测量金属产品时，请使用FP法。
电镀样品也以块体来测量，所以只能做为是否存在的判定，定量值并非正确。
含有大量的Fe少量的Cr的情况，对于Cr的是否存在的判定的精度会变差。
含有大量的Sn少量的Cd的情况，对于Cd的是否存在的判定的精度会变差。
金属样品、玻璃样品等除了以塑料为原材料以外的样品的定量依赖性比塑料差。
关于六价铬和PBB·PBDB
通过荧光X射线装置得到的测定值是作为金属的Cd、Pb、Hg、Br、Cr的重量比。
测定得到的Cr的测定值不等于六价铬的量
测定得到的Br的值不等于PBB和PBDB的量
如果样品中含有Sn时、由于受到ComptonScattering的影响，所以会降低Cd的定量
结果的信赖性。
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