频率计/频率计/数字频率计

频率计/频率计/数字频率计 型号：DP-2003

一、 概述
尊敬的用户，感谢您选用本仪器。在使用前请您通读并弄懂本仪器的细节，以便正确操作，从而取得的效果。
本仪器是一个0.001Hz—2.4G的频率计，功能有：频率测量、累计计数、周期及晶体测量，工作状态记忆等功能，可直测数字手机的射频频率（国内市场尚未出现）、手机GSM制射频帧周期，区别手机制式（GSM或CDMA），以及晶体固有频率的测量，全部功能由一个单片计算机来完成，故仪器体积小巧、简洁紧凑，功能多，性能可靠，且价格低廉，实是一部修理行业以及电子厂调试*的仪器。
二、指标
（一）频率测量
A、量程：
1档 30 MHz — 2400 MHz
2档 1 MHz — 30 MHz（具有衰减，“A"抬起，x 1；“B" 按下，x 20）
3档 10 Hz — 1 MHz（具有衰减，“A"抬起，x 1；“B"按下，x 20）
8档 0.001 Hz — 100 Hz（输入幅度：2.5V—5V，TTL电平）
B、闸门时间：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4档
C、输入灵敏度：35 mV — 30 V
D、输入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz为50 Ω、其余为1 MΩ
E、时基：12 MHz，稳定度为2 x 10-6/秒
F、精度：基准时间误差 x 频率 + 1个计数值
G、分辩率：1个计数值（满量程8位数显示时）
（二）周期测量
6档（下降沿有效），由“常态/放大"开关进行选择。10 Hz—30 MHz输入端输入。输入幅度2.5—5V，TTL电平，zui大不超过5V。zui小周期为30us，zui大周期为4294967295us，可显示周期数值，分辩率为1us。
（三） 累计计数：4档位10 Hz—30MHz 输入端输入，其分辩率为1个计数值。
（四） 晶体测量：5档位 插口A测30 KHz — 5MHz（晶体键弹出），插口B测2 MHz — 24 MHz晶体，实际可测到50MHz（晶体健按下）。
三、 本仪器的特点
A、测量范围宽、精度高：可测0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信号的频率。
B、具有多种测量功能：
① 可测数字手机的射频频率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及对讲机、无线机的发射频率。
② 可识别手机的制式（GSM或CDMA）。
③ 可测GSM制的射频周期（周期为4615us）。
④ 可测石英晶体振荡器的固有频率（30 KHz — 50MHz）。
⑤ 可测输入信号的周期。
⑥ 可对输入信号累计计数，切断仪器电源后能保存上次的原有状态，及具有记忆功能。
四、 仪器的使用
A、频率的测量：
① 选择合适的信号输入端：本仪器面板左边有三个信号输入端，zui上为30MHz—2.4GHz信号输入端，中间为10Hz—30MHz信号输入端，下面为0.001Hz—100Hz信号输入端，（2.5V—5V有效）。
② 按动“闸门"按键，选好合适的闸门时间，每按动一次“闸门"按键，闸门时间就变化一次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循环变化。闸门时间越长，分辨率越高，但测试速度也越慢。
③ 按动“档位"按键，测频率应选择1、2、3、8各档位中的一个，每档测量频率范围如下：
1档 30MHz——2400MHz
2档 1MHz—30MHz（具有衰减，“A"抬起，x 1；“B"
按下，x 20）
3档 10Hz—1MHz（具有衰减，“A"抬起，x 1；“B"按
下，x 20）
8档 0.001Hz—100Hz（输入幅度：2.5V—5V，TTL电平）
④ 按“确定"键后，即开始测量并显示。
由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。
B、周期的测量：
① 可测量周期的范围：30us—1.19 h，但zui多只能显示8位数字。
② 选用中间一个输入端口，测小信号时（35MV—5V）按下“常态/放大"键，“A、B“抬起。测大信号时，“A、B"键和“常态/放大"键同时按入。
③ 如TTL电平从zui下面的输入端输入，幅度为2.5V—5V有效，“常态/放大"键和“A、B"键均抬起。
④ 按动“档位"键，选第6档，按“确定"键后即开始测量并显示，单位为微秒。
C、累计计数的方法：
① 选用10Hz—30MHz端口作累计计数输入端。
② 档位选第4档，按下“确定"键后即开始计数。
③ 停止计数需切断信号源。
D、石英晶体固有振荡频率的测量：
① 选好合适的晶体测量口：本仪器面板提供两个晶体测量口，由面板A、B晶体按键来选择。A口可测30KHz—4MHz晶体，B口可测2MHz—24MHz晶体（实际可测到50MHz以上的晶体，24MHz以上晶体用显示值乘以3即为实际振荡频率）。
② 按动“闸门"键，选好合适的闸门时间。
③ 按动“档位"键，选第5档，按“确定"键后即开始测量并显示。
E、手机制式的识别：
① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。
② 选第6档位，按“确定"键，“常态/放大"键抬起。
③ 用手机拨号后如出现4615us或它的整频倍时，则表明该手机是GSM制式，反之是CDMA制。测量时出现7-8个微秒的误差属正常现象。
F、手机发射频率的测量：
① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。
② CDMA制手机和模拟手机选用第1档，GSM手机选用第7档，闸门均选用0.1秒，“常态/放大"键抬起。
③ 按“确定"键后，用手机拨号即可测出并显示手机发射频率。
五、 注意事项
①测量高频强辐射信号时，无线方式应远离信号源，有线方式应串接大电阻，如果信号超过30V时，还应按下面板A、B晶体选择按键（20倍衰减器）以免损坏仪器。
②本机在无信号输入时，可能是非零显示，这是正常现象，不影响测试精度。
③有时仪器可能出现下列现象：数码管显示出非正常数字（缺笔画），数码管会停止刷新数字，这并非仪器出现故障，只要再按一下复位键，仪器便可恢复正常工作。
④本机采用新版CPU，程序已经过加密处理。如用户私自解密造成程序损坏，
不属保修范围。
⑤测量手机射频和帧周期时，并不是稳定地显示某一数值，这是手机通信原理所决定的，并非仪器不稳定。
⑥8档位的测量单位是Hz，6档位的测量单位是微秒。
⑦测对讲机发射频率应根据对讲机的频率范围选择合适的档位，且对讲机应由远近靠近频率计。
⑧测BP机，子母机，对讲机的本振频率应在探头上串接一只5 P左右的小电容后去探测测量点。
⑨测量手机射频频率，测周期，测射频帧周期，计数和测晶体，共用了一个指
示灯。
六、 其它
①电源：交流220 V±20 %、50 Hz
②环境温度：-5℃- + 40℃(正常工作时需预热10分钟)
③相对湿度：10%-90% RH
④外形尺寸：202mm （宽）x 75 mm（高）x 230 mm（长）
⑤重量：约1Kg
⑥附件：测试电缆线一根，电源线一根，说明书一份。

频率计/频率计/频率计/数字频率计 型号：DP2000

本仪器可测量10Hz－2.4G之振荡频率，具有七位高亮度LED显示，该机性能稳定、测量精度高、体积小、重量轻、价格低廉，是一个既能测频率又能测周期、计数和电容测试仪器。

指标
一、 频率计：
1、 测量范围： 10Hz－2.4GHz
2、 量程： （1） 档 10Hz－10MC
（2） 档 10Hz－50 MC
（3） 档 50MC－2400 MC

3、 闸门时间：0.02S、0.2S、2S任选
4、 灵敏度：≤20mV
5、 阻抗：1MΩ、50Ω
6、 精度：基准时间误差 x 频率 ±1计数值
7、 数显：7位
二、周期：
1、 测量范围：1－9999999S
2、闸门时间：0.01S、0.1S、1S 任选
三、计数：1－9999999
四、电容：测量范围 10P－5000UF误差±5％
五、电源电压：220V ±20％ 50Hz
六、计数测量：按下“计数键", “G"灯亮，再按“清零键"，清零复位，脉冲由低频输入口（10Hz-50Mc）输入，然后开始计数。
七、电容测量：按下电容键，将电容用随机所附的测试线接入CX插座（电解电容注意极性，红插座接＋极）根据所测电容选择适当量程10UF或10KVF，该开关处于复位状态时，测10p-10UF，按下时测0.01UF－5000UF,测10P－50P电容时要减去分布电容8P，电容容量较大时，所需测量的时间较长。
八、晶体测量：按下10UF电容键和闸门键，频率选用10M或50M档，接口在晶振插口测得晶振值，测量范围2M-24M。
九、附件：测试电缆线二根（低频黑色、高频灰色各一根）；晶振、电容测试线一对；电源线一根；说明书一份。

注意！高电压、高容量的电容先放电后测量，否则会损坏本仪器。在测量过程中OF发光管工作时，说明被测量数值已溢出，请选高一档量程.

自动漆膜干燥时间测定仪/ 型号:DPQGZ

说明：为了全面详细了解涂层干燥和固化过程，需要有一种可自动测定涂膜干燥全过程时间的仪器，这样可以方便试验人员准确而高效得到一个科学数据，DPQGZ-24自动漆膜干燥时间测定仪原理为选用单片微机控制高精度步进电机，带动球面触点的划杆，在一定的载荷下通过恒定速度，划针匀速在待测漆膜表面做圆周运动，通过划针在涂膜表面轨迹用干燥时间图表覆盖后来判定涂料成膜全过程。

主要指标：
■ 电源：220V±10%，50HZ
■ 划杆旋转一周速度：24h/r
■ 划针半径：0.25/0.5/1.0/1.5mm

多用频率计/数字频率计/数字频率仪 型号：DP-3B

*章 概 述
一、概述：
DP-3B型数字频率计具有：频率测量、脉冲计数及晶体、彩电中周校准等功能，并有三档时间闸门、五档功能供选择和八位LED数码显示，频率从10Hz—2400MHz的频率计。全部功能是用一个单片微处理器（CPU）来完成的，从而整机性能稳定，体积小，使用携带方便，是一种高性能、低价位的理想数字化仪表。
二、条件及说明：
1、测量：
（1）输入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的高频通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低频通道端口
c、晶振插孔为晶体测量端口
（2）频率测量
a、量程：
C 0ㄈh 为“0"档 测量频率为30 MHz — 2400 MHz
C 1ㄈh 为“1"档 测量频率为30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 为“2"档 测量频率为100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 为“3"档 测量频率为10 Hz — 30 MHz
b、分辩率：
1 Hz, 10 Hz， 100 Hz
c、精度：
±1计数值±基准时间误差x 频率
d、闸门时间：
0.1S， 1S， 10S
e、输入灵敏度：
20 MV
f、输入阻抗：
50 Ω/ 1 MΩ
j、zui大输入电压：
30 V
2、计数测量：
在第“4"档位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口输入，分辩率为±1输入计数值。
3、晶体测量:
在“2"和“3"档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体，测试晶振范
围为100KHz — 40 MHz（24MC以上为测量值x3）。
4、中周校准：
①频率范围： A单片机、四片机的视频检波中周37.8MHz
AFT：37MHz
B 两片机的视频检波中周 38.7MHz
AFT：37.8MHz
②频率误差：±0.2MHz
5、电源电压：AC 220 V ± 10% ； 频率50 Hz
6、功 耗： 3 W
7、温 度： 使用范围 -5℃ — +50℃
存放运输 -40℃ — +60℃
8、湿 度： 10-90 % RH 存放运输 5-90 % RH
9、预热时间：10分钟
10、尺 寸：200 x 60 x 160 (mm)
11、重 量：约0.5 Kg
第二章 操作方法
1、频率的测量：当测量的频率为10 Hz — 30 MHz时，“晶体、中周"键
弹出，将随机所配的测试线插入下面的插座中，按动“档位"按钮到“2"档或“3"档，按动“闸门"按钮，当测试频率为800 MHz以上时，可选用本机上面的插座，按动“档位"键到“0"档，当频率小于800 MHz时，请选用“1"档，同时选用适当的闸门时间，频率越低，选用的闸门时间越长，反之越短。
由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。
2、晶体的测量：将“晶体、中周"键按下，“档位"按钮到“2"档或“3"档，测量100KHz—3MC，面板插孔为1、2孔，3MC—24MC，面板插孔为3、4孔。
3、中周校准：将“晶体、中周"键按下，“档位"按钮到“0"档，将中周插入面板插座的下方。两片机中频中周频率范围大约在38.9MC，单片机和四片机大约在37.8MC，AFT中周单片机大约37MHz，两片机大约37.8，根据实践经验确定）。拆下电视机的图象中频中周或AFT中周，将与中周线圈并联的瓷管电容拆开，选择一只电容（47P－75P）并接在中周的脚上，再将中周相应的脚，插入面板插座下面的插孔中，此时即显示频率值，无感起子缓慢调节磁芯，
到相应的数值。AFT检波线圈应显示在37.8MC上。注意有的电视机的中周壳
中不带谐振电容，而是按装在线路板上，这种情况应将中周和电容一起拔下，并联好后再调校（校后装入电视机上，有的需要左右微动磁芯少许）。
4、计数：在10 Hz — 30 MC插口，接入电脉冲，“档位"选至“4"，即
可计数。
第三章 附 件
1、说明书一份
2、测试电缆线一根
3、电源线一根

铅笔硬度计/便携式铅笔划痕试验仪 型号:DPQHQ

铅笔硬度仪涂膜硬度涂料涂料使用（涂表）行业便携式铅笔划痕试验仪

一）用途

涂膜硬度是涂料、涂料使用（涂装）行业进行质量认定的必测指标。铅笔划痕法测试涂膜硬度是自八十年代以来被普遍采用测试的方法。我国也已在涂料的发展研究和工业中推广这种测试方法。本仪器是根据国家标准“涂膜硬度铅笔测定法"GB/T6739-1996的。仪器即可在实验室使用，也可用于施工现场，并能在任意方向上对涂膜硬度进行检定。

二)参数荷重：1000±1g铅笔与试样夹角：45°铅笔规格：6H-6B划痕速度：1mm/S

三)使用方法:

参数

1.准备一般为平滑马口铁板120*50*(0.2~0.3)mm或产品另行规定的底材及尺寸.

2.用铅笔刀小心把每只铅笔前端削去木质部分.露出3毫米柱状铅芯(不可使铅芯松动或削伤铅芯).

3.仪器放在平整的工作台上,将垫块放在仪器下部.将削好的铅插入仪器主体孔内,铅笔芯菱边接触到工作台,旋紧螺钉使孔内铅笔夹紧(反旋螺钉可卸下铅笔),,反复调紧固定铅笔.去掉垫块将仪器放在被测试板上,用力(此力大小使铅芯端缘破碎或犁伤涂膜)以每秒1MM的速度向前推进,从zui硬的铅笔开始,每级铅笔犁五道3MM长的痕迹,直至找出不能犁伤涂膜的铅笔为止.此铅笔硬度即代表所测涂膜的铅笔硬度(具体判定方法根据GB/T6739-1996标准的规定进行).

四)维护和保养:实验结束后,将仪器擦拭干净放入仪器盒内,置于干燥处.

功能用途：

本铅笔硬度计依据GB/T6739-1996。涂抹表面对作用其上的另一硬度较大的物体，所表现的阻力，也就是测定漆膜抵抗变形的能力。以铅笔标号表示。适用于涂膜硬度测试。

二、参数：
1．试验仪：要保证砝码的重量1000±50g垂直作用于铅笔芯与试验台交点上，使铅笔与试验台保持45度夹角不变。试验台可移动，用铅笔划出痕迹。
2．一组中华牌绘图铅笔HB、1H-6H、1B-6B共13支。铅笔制备：削去木杆露出3mm铅芯，在砂纸上画圆圈，将铅笔尖磨成平面使边缘锐利。

注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的