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上海胜绪电气有限公司
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SXJS-V全自动抗干扰介质损耗测试仪测量方式及原理
2021-5-26 阅读(733)
异频抗干扰CVT介质损耗测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，采用数字波形分析和内置电桥自校准等技术，可变频调压电源，升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生，经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为50Hz、47.5 Hz\52.5 Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5 Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,数字陷波技术，避开了工频电场对测试的干扰，从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。实现高精度介损测量，正/反接线的准确度和稳定性一致;支持四通道正接法做介损。
按被测试品是否接地分两种测量方式，即正接线测量方式和反接线测量方式。两种测量方式的原理如图1所示：
图1
在高压电源的10kV侧，高压分两路，一路给机内标准电容CN，此电容介损非常小，可以认为介损为零，即为纯容性电流，此电流ICN 可做为容性电流基准。在Cx试品一侧，试品电流Icx通过采样电阻R采入机内，此Icx可分解成水平分量和垂直分量见图2所示，通过计算水平分量与垂直分量的比值即可得到tgδ值。
在图1（a）中Cx为非接地试品，试品电流Icx从试品末端进入采样电阻R，得到全电流值，在图1（b）中Cx为接地试品，机内Cx端直接接地，电流Icx从试品高压端到机内采样电阻取得全电流值。
图2
