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上海迅星电子科技有限公司
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成像平板探测器的设计一般的X射线数字成像基于新的千兆位以太网接口，图像显示在用户提供的工作站。
瓦里安平板探测器
成像平板探测器的设计一般的X射线数字成像基于新的千兆位以太网接口，图像显示在用户提供的工作站。
图像基础上的应用采集从zui终用户的工作站或笔记本电脑上运行具有影像成像质量高，超薄的探测板，图像清晰等特点，DR平板探测器是目前X射线X光影像成像设备中，zui清晰的影像成像设备。
应用领域、DR平板探测器被广泛应用于：科研工业、X射线无损检测成像，医学摄影、造影的行业。
可检测：IC、BGA、电容、电阻、二极管、三极管、塑料气泡、金属、铸件裂缝等。
插头、开关内部结构；水笔头内部结构；锂电池顶部焊接；电池外壳裂缝；塑料件、橡胶件内部气孔；开门锁定内部构造等。
功能：
1、检测IC、BGA、芯片、开关、连接线、插头等电子元件内部结构（位置是否偏移、变形；是否脱焊；是否断裂等现象）；
2、检测皮鞋、皮包是否有异物（鞋底、鞋面、包内及包表面非位置有铁钉、针脱落在内）；
3、内部是否有气孔；内部线材是否断裂；焊接处是否焊牢；
内部线材是否在位置；
内部是否有金属杂质，从而导致短路；
本产品为上海迅星电子科技有限公司研发!
为了对客户负责，我们希望客户能寄样品或者带样品到我公司检测，确认效果后再购买本设备。我们会以的服务呈现给您！
欢迎广大客户来咨询！ 样品检测免费！
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