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美国台式膜厚仪

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更新时间：2017-01-05 11:56:54浏览次数：426次

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产品简介

美国台式膜厚仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

美国台式膜厚仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

美国台式膜厚仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。