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半导体x荧光膜厚测试仪

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产品型号

品       牌

厂商性质代理商

所  在  地深圳市

更新时间:2017-01-11 14:41:50浏览次数:537次

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经营模式:代理商

商铺产品:35条

所在地区:广东深圳市

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产品简介

半导体x荧光膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度,包括单镀层、双镀层、多镀层的测试,是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

半导体x荧光膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度,包括单镀层、双镀层、多镀层的测试,是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度,多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

半导体x荧光膜厚测试仪主要特点包括:
+ 成本低、快速、非破坏的分析。 
+ 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线。 
+ 的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从铝(原子序数13号)到铀(92号)各元素,测厚行业20年知识和经验的积淀。
+ 可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
+ 可分析多种样品形状和尺寸:可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件,提供多种硬件供选配,满足各种需要.


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