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x射线膜厚测试仪

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更新时间：2017-02-19 05:37:18浏览次数：303次

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产品简介

x射线膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

x射线膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

x射线膜厚测试仪1.可测：单层,双层,多层,合金镀层,
2.测量范围:0.04-35um
3.测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
4.全自动台面：操作非常方便简单
5.可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
6.可测元素范围：钛（Ti）– 铀（U）原子序 22 –92
7.准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
8.自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
9.电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机