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x荧光镀层美国膜厚测试仪

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更新时间：2017-01-19 01:09:04浏览次数：314次

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产品简介

x荧光镀层美国膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

x荧光镀层美国膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

x荧光镀层美国膜厚测试仪应用范围
* 测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
* 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 组成成分分析时可同时测定24种元素;
* 镀液中元素含量分析;
* 元素光谱定性分析;
* 基材分析;
生产商及仪器型号：
制造商：美国BOWMAN公司
原产地：美国
型号：BA 100