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半导体式表面污染检测仪

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产品型号NHJ2

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所在地上海市

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更新时间：2018-05-15 16:03:53浏览次数：603次

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上海贝谷仪器科技有限公司

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产品简介

NHJ2是用于探测α和β射线的辐射监测仪表，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高。该仪表具有自我诊断、通讯、存储等丰富的功能。

详细介绍

        NHJ2是用于探测α和β射线的辐射监测仪表，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高。该仪表具有自我诊断、通讯、存储等丰富的功能。
特点
◆ 采用半导体探测器，不需要定期交换探测器
◆ 可进行量程广且精度高的测量，测量范围为0~99990min-1
◆ 采用彩色有机EL显示屏，其画面明亮且视角宽，易于目视
◆ 能保存1200个测量值和时间点
◆ 具有自我诊断功能
◆ 测量值可通过USB接口存储到计算机
技术指标
◆ 测定射线:α 射线，β 射线
◆ 探测器:硅半导体
◆ 显示范围: 0～99990min-1
                    0～9999000counts
◆ 探测效率:α射线241Am 20%
◆ β射线90Sr-90Y≥ 30%
◆ 时间常数:1，3，10sec，自动
◆ 数据存储:1200点
◆ 数据输出:USB 接口
◆ 电池寿命:7小时以上（无显示），
                   6小时以上（连续显示）
◆ 电    源:碱性电池5号6节
                 镍氢充电电池（另选）
                 AC100～240V，AC适配器（另选）
◆ 工作温度: -5～+45℃/23～113˚F
◆ 工作湿度:≤90%RH（无结露）
◆ 尺    寸:120（W）×56（H）×293（D） mm
                 4.7（W）×2.2（H）×11.5（D） in.
◆ 质    量:约0.75 kg/1.65 lb.（不含电池）
◆ 依据标准 : IEC60325 （2002）