1.0概述
AB-MTD1A-0100系列单色测温仪具有坚固的外形，采用不锈钢机芯（机芯直径仅为59mm），标配不锈钢防护套（带吹扫和冷却功能），密封部件采用耐高温橡胶，防护等级IP65，适用于工业场合。软硬件设计，适用于一百万倍信号的处理，可以满足用户对仪器精度、重复性、等各方面的要求。
它可广泛应用于冶金行业（线棒材、热轧板、锻造）和铸造行业，水泥窑，感应加热，单晶硅和多晶硅等各种工业场合温度的测量
1.1产品特点
位置及大小。
1路电平输出以及1路RS485通讯接口。
1.2单色红外测温仪原理
目前市场上的单色测温仪，多为窄波段测温仪。它的测温原理是通过物体某一狭窄波长范围内发生的辐射能量，来决定温度的大小。测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。
物体发出辐射能量的大小与发射率有一定关系。发射率越大，物体发出的红外线能量越大。物体的发射率与物体表面的状态有一定关系，表面的粗糙度、亮暗程度、不同材质都会影响发射率。所以在使用单色测温仪时，常会有一张不同材质的发射率表。
1.3适用场合
被测物测量面积较大（完*够充满目标视场）、表面较平整（不弯曲）、与测量方向小于30度、被测物体 表面理化状态稳定(非处于氧化、气化、液化过程之中) 、光学通道少灰尘和没有阻挡与衰减等场合下物体温度的测量。
1.0概述
AB-MTD1A-0100系列单色测温仪具有坚固的外形，采用不锈钢机芯（机芯直径仅为59mm），标配不锈钢防护套（带吹扫和冷却功能），密封部件采用耐高温橡胶，防护等级IP65，适用于工业场合。软硬件设计，适用于一百万倍信号的处理，可以满足用户对仪器精度、重复性、等各方面的要求。
它可广泛应用于冶金行业（线棒材、热轧板、锻造）和铸造行业，水泥窑，感应加热，单晶硅和多晶硅等各种工业场合温度的测量。
1.1产品特点
位置及大小。
1路电平输出以及1路RS485通讯接口。
1.2单色红外测温仪原理
目前市场上的单色测温仪，多为窄波段测温仪。它的测温原理是通过物体某一狭窄波长范围内发生的辐射能量，来决定温度的大小。测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。
物体发出辐射能量的大小与发射率有一定关系。发射率越大，物体发出的红外线能量越大。物体的发射率与物体表面的状态有一定关系，表面的粗糙度、亮暗程度、不同材质都会影响发射率。所以在使用单色测温仪时，常会有一张不同材质的发射率表。 1.3适用场合
被测物测量面积较大（完*够充满目标视场）、表面较平整（不弯曲）、与测量方向小于30度、被测物体 表面理化状态稳定(非处于氧化、气化、液化过程之中) 、光学通道少灰尘和没有阻挡与衰减等场合下物体温度的测量。
1.0概述
AB-MTD1A-0100系列单色测温仪具有坚固的外形，采用不锈钢机芯（机芯直径仅为59mm），标配不锈钢防护套（带吹扫和冷却功能），密封部件采用耐高温橡胶，防护等级IP65，适用于工业场合。软硬件设计，适用于一百万倍信号的处理，可以满足用户对仪器精度、重复性、等各方面的要求。
它可广泛应用于冶金行业（线棒材、热轧板、锻造）和铸造行业，水泥窑，感应加热，单晶硅和多晶硅等各种工业场合温度的测量。
1.1产品特点
位置及大小。
1路电平输出以及1路RS485通讯接口。
1.2单色红外测温仪原理
目前市场上的单色测温仪，多为窄波段测温仪。它的测温原理是通过物体某一狭窄波长范围内发生的辐射能量，来决定温度的大小。测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。
物体发出辐射能量的大小与发射率有一定关系。发射率越大，物体发出的红外线能量越大。物体的发射率与物体表面的状态有一定关系，表面的粗糙度、亮暗程度、不同材质都会影响发射率。所以在使用单色测温仪时，常会有一张不同材质的发射率表。
1.3适用场合
被测物测量面积较大（完*够充满目标视场）、表面较平整（不弯曲）、与测量方向小于30度、被测物体 表面理化状态稳定(非处于氧化、气化、液化过程之中) 、光学通道少灰尘和没有阻挡与衰减等场合下物体温度的测量。
1.0概述
AB-MTD1A-0100系列单色测温仪具有坚固的外形，采用不锈钢机芯（机芯直径仅为59mm），标配不锈钢防护套（带吹扫和冷却功能），密封部件采用耐高温橡胶，防护等级IP65，适用于工业场合。软硬件设计，适用于一百万倍信号的处理，可以满足用户对仪器精度、重复性、等各方面的要求。
它可广泛应用于冶金行业（线棒材、热轧板、锻造）和铸造行业，水泥窑，感应加热，单晶硅和多晶硅等各种工业场合温度的测量。
1.1产品特点
位置及大小。
1路电平输出以及1路RS485通讯接口。
1.2单色红外测温仪原理
目前市场上的单色测温仪，多为窄波段测温仪。它的测温原理是通过物体某一狭窄波长范围内发生的辐射能量，来决定温度的大小。测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。
物体发出辐射能量的大小与发射率有一定关系。发射率越大，物体发出的红外线能量越大。物体的发射率与物体表面的状态有一定关系，表面的粗糙度、亮暗程度、不同材质都会影响发射率。所以在使用单色测温仪时，常会有一张不同材质的发射率表。
1.3适用场合
被测物测量面积较大（完*够充满目标视场）、表面较平整（不弯曲）、与测量方向小于30度、被测物体 表面理化状态稳定(非处于氧化、气化、液化过程之中) 、光学通道少灰尘和没有阻挡与衰减等场合下物体温度的测量。
