上海百贺仪器科技有限公司
EPMA-8050G电子探针显微分析仪具有超高分辨率面分析,具有非常的空间分辨率,二次电子图像分辨率3nm，大束流超高灵敏度分析,全部分析操作简单易懂.
搭载场发射电子光学系统，将岛津EPMA分析性能发挥到
从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有非常的空间分辨率的场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至。
超高分辨率面分析
对碳膜上Sn球放大3万倍进行面分析。即使是SE图像（左侧）上直径只有50nm左右的Sn颗粒，在X射线图像（右侧）上也是清晰可见。
的空间分辨率
EPMA可达到的别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV）分析条件下的二次电子分辨率。
（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）
二次电子图像分辨率3nm
碳喷镀金颗粒的观察实例。实现分辨率
3nm（@30kV）。相对较高的束流也可将电子束压
细聚焦，更加容易的获得高分辨率的SEM图像。
大束流超高灵敏度分析
实现3.0μA（加速电压30kV）的束流。
全束流范围无需更换物镜光阑。
最多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪
无人可及的52.5°X射线取出角。
4英寸罗兰圆半径兼顾高灵敏度与高分辨率。
最多可同时搭载5通道相同规格的X射线谱仪。
全部分析操作简单易懂
全部操作仅靠一个鼠标就可进行的*可操作性。
追求「易懂」的人性化用户界面。
搭载导航模式，自动指引直至生成报告。
超高灵敏度面分析
使用1μA束流对不锈钢进行5000倍的面分析。精确地捕捉到了Cr含量轻微不同形成的不同的相（左侧），同时也成功地将含量不足0.1%的Mn分布呈现在我们眼前（右侧）。
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级（1~100 nm），或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪重要战略性高技术材料之一"。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效应将为新材料的开发应用提供崭新思路。
测量要求 扫描面板探针表面三维形貌，提取profile测量探针顶端的磨损情况
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