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膜厚仪

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更新时间：2024-11-28 13:06:49浏览次数：84次

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北京华海恒辉科技有限公司

经营模式：经销商

商铺产品：317条

所在地区：北京

联系人：彭济远（经理）

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产品简介

本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制仪器。

详细介绍

适用范围：	HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
主要功能：	可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；三种校准方法：一点校准、二点校准、基本校准；显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm） 1μm （测量范围大于100μm）有两种工作方式：直接方式和成组方式有两种测量方式：连续测量和单次测量有两种关机方式：手动关机和自动关机可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
测量范围：	（1）F400探头、N400探头：0—400μm （2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm （3）F10探头：0—10000μm （4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头）
测量精度：	不同探头精度要求不同（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10）
使用温度：	0～40℃
外型尺寸：	150×80×30m
重量：	250g

功能	HS2100F	HS2100N	HS3100	HS4100
测量原理	磁性	涡流	磁性/涡流	磁性/涡流
测量范围	标准配置探头（F1/N1)：1～1250μm
测量精度	±（2%H+1）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）
统计量	平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV)
存贮和统计	15个测量值
测量精度	±（2%H+1）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）
零点校准	√	√	√	√
二点校准	√	√	√	√
删除功能	√	√	√	√
自动关机	√	√	√	√
蜂鸣声提示	√	√	√	√
测量方式	√	√	√	√
欠压指示	√	√	√	√
错误提示	√	√	√	√
标准配置	主机 F1探头基体校准片说明书包装箱	主机 N1探头基体校准片说明书包装箱	主机 F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱	主机打印机 F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱
选配件	F1、F400、F10测头 N1、N400测头			通讯软件 F1、F400、F10测头 N1、N400测头