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SpectraScan 高分辨率高光谱成像分析技术方案

2024-07-05 15:21:50北京易科泰生态技术有限公司点击量:2092

· 高分辨率 VNIR 高光谱成像,空间分辨率 1775 x 像素,光谱分辨率 3nm,波段数 768

· 1000-2500nm SWIR 高光谱成像,高灵敏度 450FPS,384x 像素空间分辨率,低温冷却 MCT 检测器, 高信噪比 SNR1050:1

 

SpectraScan 高分辨率高光谱成像分析技术方案

 

· 多样化扫描成像主机系统供选配:实验室扫描成像系统、野外扫描成像系统、客户定制系统

 

SpectraScan 高分辨率高光谱成像分析技术方案

 

· 广泛应用领域:农业(作物表型成像分析 、种质资源检测、病害检测等) 、健康(食品药品品质检测等)、地质矿物成分分析、材料检测分检 、生态环境、土壤与地球科学、文博及刑侦等等。

 

SpectraScan 高分辨率高光谱成像分析技术方案

 

· Specim  高光谱成像相机, 出厂已经过光谱校准,每次扫描前测量一个内部标准参考目标, 自动校准图 像反射率

· 提供 SDK,用于快速高效的应用程序开发

 

主要技术参数 :

1.   高光谱成像:

成像单元

VNIR

SWIR

光谱范围

400-1000nm

1000-2500nm

光谱采样

0.78-6.27nmm

5.6nm

光谱分辨率

3.0nm

12nm

F 值

F/2.4

F/2.0

空间像素/线

1775

384

光谱波段数

768

288

帧频

100FPS

450FPS

相机输出

12bit CameraLink

16bit CameraLink

像素大小

8μ m

24μ m

曝光时间

0.1-100ms

0.1-20ms

相机重量

2.7kg

14kg(相机) +5kg( DPU)

 

2.   主机系统选配:

a) LabScanner :样品盘 100x50cm,高度可调范围  50cm,zui大扫描速度  500mm/s,包括光源、 数据采集软件、校准板等;可选配扫描行程zui大达  190cm  的扫描成像台架,可俯视、侧视扫 描成像

b) SisuCHEMA,可选配 SisuCHEMA 主机系统的同时匹配选择俯视侧视扫描成像台架

c) 样芯扫描主机系统:可选配 SisuSCS 样芯扫描主机系统或高通量样芯扫描主机系统,或客户定 制样芯扫描成像分析系统,用于岩矿样芯、沉积样芯、土壤样芯的成像分析

d) 旋转平台系统:步进马达,FOV180x60 度,扫描速度 0.01-25 度/秒,用于地矿、农业、  植物、 岩画、土壤等野外原位扫描成像分析等

 

SpectraScan 高分辨率高光谱成像分析技术方案

 

SisuCHENA 系统                 俯视、侧视扫描台架             高通量土壤高光谱成像分析系统

 

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